Dimension Edge 原子力顯微鏡
 
Dimension家族新成員，閉環(huán)掃描，性價(jià)比
快速測(cè)量、結(jié)果準(zhǔn)確、圖像分辨率高
測(cè)試范圍廣，適用于任何樣品的測(cè)試
*的納米尺度測(cè)量，適用于各技術(shù)水平

Dimension Edge
性價(jià)比高，大樣品臺(tái)AFM的解決方案
Dimension® Edge™ 原子力顯微鏡采用， 其儀器性能、測(cè)試功能和操作性在同類產(chǎn)品中處于?；诘腄imension Icon^®平臺(tái), Dimension Edge系統(tǒng)的整體設(shè)計(jì)使其 具有低漂移、低噪音的特點(diǎn), 大大提高了數(shù)據(jù)獲取速度和可靠性，使用這臺(tái)全新的儀器，幾分鐘時(shí)間即可獲得高質(zhì)量、可發(fā)表的專業(yè)數(shù)據(jù)。這些檢測(cè)性能的提高，并沒(méi)有影響儀器的價(jià)格，低于您對(duì)如此高性能原子力顯微鏡的支出預(yù)算。此外，視覺(jué)反饋集成化和預(yù)配置可選功能輔助用戶獲得更高質(zhì)量的測(cè)量結(jié)果。整套儀器充滿人性化的設(shè)計(jì)，適用于各個(gè)研究階段和科研水平的用戶。
 

的閉環(huán)Dimension系列AFM
 
的傳感器設(shè)計(jì)既獲得了閉環(huán)的精度，又具有 開(kāi)環(huán)的噪音水平。
 
顯著地降低噪音和漂移，在大樣品臺(tái)AFM上實(shí)現(xiàn) 了小樣品臺(tái)AFM的成像性能。
 
顯微鏡和電路的設(shè)計(jì)既保證了高成像性能，又使 得價(jià)格適中。
快速，精確，高分辨的測(cè)量結(jié)果
 
全新的可視化操作界面,整體采用流程式設(shè)計(jì)，確?？焖俸?jiǎn)便的設(shè)定各步驟參數(shù)
 
5百萬(wàn)像素 的高分辨率相機(jī)和馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可編程平臺(tái)，提供快速樣品導(dǎo)航和高效多點(diǎn)測(cè)量
 
從大范圍掃描到分辨檢測(cè)的無(wú)縫過(guò)渡 可在短時(shí)間內(nèi)獲得準(zhǔn)確結(jié)果。

適用于任何樣品上的任何應(yīng)用的解決方案
開(kāi)放式平臺(tái)設(shè)計(jì)可適應(yīng)各種實(shí)驗(yàn)和樣品的需求。
 
新儀器的設(shè)計(jì)和軟件利用了的Bruke  AFM掃描模式和檢測(cè)技術(shù)，滿足的應(yīng)用需求。
 
內(nèi)置的信號(hào)路由模塊，幫助研究者根據(jù)新的研究方向和實(shí)驗(yàn)需求，自定義檢測(cè)模式。
 
 
*的納米級(jí)測(cè)量能力，適用于各研究水平
 
創(chuàng)新型模塊化設(shè)計(jì)，不提高儀器成本的前提下，實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)量性能。
 
的8型軟件，凝聚10幾年AFM專業(yè)研發(fā)精華，常規(guī)掃描模式外，根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求，配備各種備選模式。
 
完整的控制平臺(tái)，既可直觀導(dǎo)航，又可進(jìn)行*的編程控制。
DIMENSION系列AFM提供了質(zhì)的AFM性能
 
Dimension Edge原子力顯微鏡既具有性能，保留了Dimension ICON系統(tǒng)的諸多技術(shù)創(chuàng)新，中等價(jià)位的價(jià)格 與儀器功能達(dá)到了平衡。其中最核心的技術(shù)是 Bruker創(chuàng)新性的閉環(huán)掃描，結(jié)合溫度補(bǔ)償位置傳感器和模 塊化的低噪音控制電路，這套針尖掃描部件把閉環(huán)噪音減 小到了單個(gè)化學(xué)鍵長(zhǎng)度。為了限度的發(fā)揮這一優(yōu)點(diǎn)，掃描器被固定在一個(gè)堅(jiān)固的，具有漂移補(bǔ)償?shù)臉蛄航Y(jié)構(gòu)上。此橋梁結(jié)構(gòu)基于FPGA的溫度控制并快速穩(wěn)定到極低的漂移速率。因此，Dimension Edge原子力顯微鏡結(jié)合了高生產(chǎn)效率，高精度，大樣品臺(tái)的樣品通用性，閉環(huán)操作 和以前僅在小樣品臺(tái)、開(kāi)環(huán)儀器上才能獲得的高分辨率圖像等特點(diǎn)，能夠獲得任何樣品的真實(shí)圖像，實(shí)現(xiàn)突破性的實(shí)驗(yàn)成果。

完備的AFM功能
 
Dimension Edge既包含了各種常規(guī)的掃描模式和Bruker技術(shù)，還提供了針對(duì)各種具體應(yīng)用領(lǐng)域的解決方案，例如納米級(jí)的電學(xué)測(cè)量，可控環(huán)境下的材料表征等。這些功能都能夠在廣泛應(yīng)用中獲得精確成像和單點(diǎn)譜線測(cè)量，例如從太陽(yáng)能和半導(dǎo)體器件的表征和多相聚合物材料成像，到從單分子到全細(xì)胞的生命科學(xué)樣品的原位成像和單個(gè)納米顆粒的研究。
 
電學(xué)表征
Dimension Edge不僅僅是把一個(gè)AFM探針連接到低噪音電流放大器上，而是開(kāi)發(fā)了Dark Lift模式，Dark Lift是在導(dǎo)電原子力數(shù)據(jù)把光電效應(yīng)從樣品的本征電導(dǎo)性中清晰分離的方法。它是基于布魯克已申請(qǐng)的，應(yīng)用磁力顯微鏡和靜電力顯微鏡中 的抬起模式（Lift Mode）。系統(tǒng)利用這兩種性能以確保在靜電電勢(shì)成像應(yīng)用的化測(cè)試。迄今為止，結(jié)合了Dark Lift模式的閉環(huán)（常損耗量）的掃描電容顯微鏡（SCM）依然是對(duì)摻雜濃度表征的確的解決方案。然而，如果研究者想要以靈敏度來(lái)探測(cè)小電壓的變化，也可很容易地把抬起模式 與表面電勢(shì)顯微鏡結(jié)合起來(lái)。Dimension Edge系統(tǒng)通過(guò)雙頻的方法，能夠?yàn)槿魏戊o電電勢(shì)成像的應(yīng)用提高理想的解決方案。