翻轉(zhuǎn)臺又稱費(fèi)德羅夫旋轉(zhuǎn)臺。是安裝在偏光顯微鏡物臺上的附加儀器。由三個、四個或五個旋轉(zhuǎn)軸組成，將薄片夾在旋轉(zhuǎn)臺的一對玻璃半球之間，借助于各旋轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)動，使晶體在空間傾斜轉(zhuǎn)動，達(dá)到需要的方位，以便于準(zhǔn)確測定晶體的光學(xué)常數(shù)和鑒定礦物。

　　翻轉(zhuǎn)臺由一套金屬軸、環(huán)和玻璃半球系統(tǒng)組成。上、下玻璃半球夾持巖石薄片，使其能在三維空間任意轉(zhuǎn)動?，F(xiàn)以德國萊茲廠生產(chǎn)的五軸旋轉(zhuǎn)臺為例來介紹旋轉(zhuǎn)臺的構(gòu)造。

　　底座

　　翻轉(zhuǎn)臺底座用于支撐整個軸、壞及玻璃半球系統(tǒng)，并通過共上的固定螺絲，將整個臺子固定在偏光顯微鏡物臺上。有些旋轉(zhuǎn)臺在底座上還配有帶校正螺絲的附加底圾，用來校正旋轉(zhuǎn)臺中間。

　　軸、環(huán)系統(tǒng)

　　軸、環(huán)系統(tǒng)由五軸四環(huán)組成，從內(nèi)向外依次為N軸(n環(huán))、H軸(h環(huán))、K軸(k環(huán))、M軸(m環(huán))、 I軸。四軸臺無K軸。

　　N軸為內(nèi)直立軸，此軸內(nèi)環(huán)n的旋轉(zhuǎn)軸，軸與薄片平面垂直。n環(huán)外側(cè)有0°-360°刻度圈，可以讀出N軸旋轉(zhuǎn)的角度。n環(huán)內(nèi)側(cè)鑲有另一金屬環(huán)，環(huán)內(nèi)載有圓玻璃片，用以在其上放置薄片和半球，此金屬環(huán)背面安有螺旋圈，撥動上面的四個小齒片，可調(diào)整半球系統(tǒng)(包括薄片)的高度。n環(huán)外側(cè)右下方有一金屬桿(有的臺子上無此桿)，撥動它可鎖緊該軸，但一般操作時不必鎖緊。

　　H軸為南北軸，此軸為南北方向的水平軸，與對應(yīng)的h環(huán)處于同一平面。轉(zhuǎn)動H軸，使h環(huán)(并攜帶n環(huán))向東或向西傾斜，轉(zhuǎn)角可由東西兩側(cè)的刻度弧上讀出。H軸的北端(或南端)有一制動螺絲，可將H軸鎖住。

　　K軸為內(nèi)東西軸，此軸為東西方向的水平軸，與對應(yīng)的k壞處于同一水平面內(nèi)。轉(zhuǎn)動K軸，可使k環(huán)聯(lián)同N、H軸和相應(yīng)的n，h環(huán)向南或向北傾斜，傾斜的角度可以在南北兩端的刻度弧上讀出。K軸右端裝有該軸的鎖軸螺絲。在五軸臺上使用四軸法工作時，需將其鎖在0°位置。四軸臺無該軸。

　　M軸為外直立軸，此軸與對應(yīng)的m環(huán)垂直，當(dāng)m環(huán)水平時，M軸與顯微鏡軸重合。m環(huán)上刻有0°-360°刻度，可讀出M軸轉(zhuǎn)動的角度，當(dāng)m環(huán)位于90°時，為M軸的原始位置即零位(原蘇聯(lián)產(chǎn)旋轉(zhuǎn)臺0°為原始位置)。轉(zhuǎn)動M軸將帶動內(nèi)部的軸、環(huán)一并轉(zhuǎn)動，影響H、K軸位置。M軸的固定螺絲在右端的工軸鼓輪上。

　　I軸為外東西軸，此軸亦為東西方向的水平軸。轉(zhuǎn)動I軸可使m壞并攜帶k、h、n環(huán)向南或向北傾斜。I軸轉(zhuǎn)動角度由其右端鼓輪上的刻度和游標(biāo)尺讀出。在鼓輪的北端有該軸的固定螺絲。

　　由上可知，軸環(huán)系統(tǒng)的機(jī)械特征是，轉(zhuǎn)外軸(環(huán))，必帶動內(nèi)軸(環(huán))，而轉(zhuǎn)內(nèi)軸(環(huán))，不影響外軸(環(huán))的位置。德國萊茲和我國渾江光學(xué)儀器廠生產(chǎn)的旋轉(zhuǎn)臺，除M軸原始位置為90°外，其它各軸均為0°。

　　玻璃半球系統(tǒng)

　　該系統(tǒng)由上、下玻璃半球和夾在共間的巖石薄片、圓玻璃片組成，構(gòu)成一個完整的球體，共球心恰好設(shè)計在巖石薄片平面上。旋轉(zhuǎn)臺通常備有三對折射率不同的坡璃半球(如德制三對半球折射率分別為1.516、1.557、1.649)。上半球嵌在一梭形或矩形金屬板上，可由螺絲固定在n環(huán)上部;下半球嵌在一個圓形具彈性金屬架上，可卡在n環(huán)的下部。金屬板和金屬架上分別標(biāo)有上下半球的折射率值。

　　玻璃半球系統(tǒng)的作用是不論薄片如何傾斜，光線都是垂直球面透射到半球中，當(dāng)選用的一對半球折射率值與待測礦物的折射率值相等或很接近時，在半球與礦物的界面上，光線并不發(fā)生折射，或不發(fā)生明顯的折射;當(dāng)半球與礦物折射率值相差較大時，光線通過半球和待測礦物晶體，*會發(fā)生明顯的折射，導(dǎo)致測量的角度(假角)和真實角度有差值。因此，在測量時，須盡量選用與被測礦物折射率相等或相近的一對玻璃半球，這樣才能較大限度地提高測量精度。若欲測礦物(特別是暗色礦物)與配備的三對半球折射率值相差均較大(一般>0.05)時，旋轉(zhuǎn)臺上測量的I、H或K軸的轉(zhuǎn)角(>40°)，需要查圖校正。

　　翻轉(zhuǎn)臺的安裝：

　　取下顯微鏡的物鏡、薄片夾和物臺中間的金屬圓板;提升顯微鏡的鏡筒(或下降物臺)，到較大限度，物臺鎖在0°上;使旋轉(zhuǎn)臺的工軸鼓輪在右側(cè)，雙手持旋轉(zhuǎn)臺輕輕地將其放到物臺上，并使底座上的兩個圓孔對準(zhǔn)物臺上正南北方向的兩個螺孔，用固定螺絲將二者固定(帶附加底盤者要擰緊，不帶這種底盤者先不要擰緊，以便校正旋轉(zhuǎn)臺中間時移動底座，待校正后再擰緊);將旋轉(zhuǎn)臺專用物鏡安裝到顯微鏡上。旋轉(zhuǎn)臺安裝完畢，將旋轉(zhuǎn)臺各軸恢復(fù)零位(N軸不必，下同)，也*是H、K、I軸位于0°，M軸固定于90°。

　　翻轉(zhuǎn)臺的校正：

　　物鏡中間校正

　　這是在進(jìn)行旋轉(zhuǎn)臺校正之前須作的，否則后面的校正操作將無任何意義。校正方法即一般顯微鏡的物鏡中間校正(注意轉(zhuǎn)物臺時，旋轉(zhuǎn)臺各軸要位于零位)。所有待使用的物鏡均需校正。

　　旋轉(zhuǎn)臺中間校正

　　目的是使旋轉(zhuǎn)臺的直立軸與顯微鏡軸重合。移動薄片使一微小礦物顆粒(以下簡稱質(zhì)點)置十字絲交點上，各軸位于零位，物臺鎖在0°。

　　轉(zhuǎn)N軸360°，若質(zhì)點繞十字絲中間作圓周運(yùn)動，表明中間不正，需要校正。方法原理同顯微鏡物鏡中間校正，轉(zhuǎn)N軸180°，質(zhì)點距離中間較遠(yuǎn)，輕輕轉(zhuǎn)動附加底盤的兩個校正螺絲(無此底盤者，用雙手輕輕推動尚未鎖緊的底座)，將質(zhì)點移到距十字絲中間一半的位置，用手挪動薄片，使原質(zhì)點或另選的質(zhì)點置于視域中間。

　　再轉(zhuǎn)N軸檢查，若質(zhì)點仍偏離十字絲中間運(yùn)動，需再次調(diào)節(jié)旋轉(zhuǎn)臺的校正螺絲(或移動底座)，直到視域中間的質(zhì)點在轉(zhuǎn)N軸檢查時不偏離十字絲中間為止。對不具附加底盤的旋轉(zhuǎn)臺，此時**要鎖緊底座固定螺絲。

　　旋轉(zhuǎn)軸校正

　　I軸的校正及物臺零位的確定：目的是使I軸嚴(yán)格平行十字絲橫絲。檢查和校正的方法是：將各軸和物臺鎖在0°(M軸在90°)。提升鏡筒(或下降物臺)焦準(zhǔn)上半球表面的塵點，放松I軸鎖軸螺絲，往返轉(zhuǎn)動I軸(較大限度)，同時觀察十字絲附近的塵點移動軌跡，如軌跡平行十字絲縱絲，說明I軸恰在東西方向(平行十字絲橫絲)， 載物臺0°即為物臺的零位。

　　H軸的校正和ITt環(huán)零點的確定：當(dāng)各軸和物臺位于零位時，H軸應(yīng)與十字絲縱絲平行。檢查和校正方法同上所述，但轉(zhuǎn)H軸要觀察塵點是否沿十字絲橫絲移動，如有偏差，轉(zhuǎn)M軸加以校正，校正后M軸(m環(huán))的刻度讀數(shù)確定為零位(如89.5°)，此數(shù)為該旋轉(zhuǎn)臺的基本常數(shù)，長期**，不必每次裝臺均校正。

　　球心高度的校正

　　半球系統(tǒng)的球心(在巖石薄片平面上)應(yīng)與旋轉(zhuǎn)臺各軸的交點重合，但由于薄片(包括載玻璃和蓋玻璃)往往略厚或略薄，以及其它機(jī)械誤差的存在，球心常常稍高或略低于各軸交點，需要撥轉(zhuǎn)n環(huán)背面的調(diào)節(jié)環(huán)加以校正