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芯片老化測(cè)試Small Burn-in Test system

參考價(jià)	￥ 11111
訂貨量	≥1件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱成都中冷低溫科技有限公司
品牌其他品牌
型號(hào)
所在地成都市
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時(shí)間2026/2/10 14:03:51
訪問(wèn)次數(shù)269

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芯片老化測(cè)試 Small Burn-in Test system

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

成都中冷低溫科技有限公司總部位于中國(guó)成都，是一家專注于泛半導(dǎo)體溫度環(huán)境解決方案的創(chuàng)新型高科技公司，中冷低溫主要生產(chǎn)高低溫沖擊氣流儀（ThermoTST熱流儀）、接觸式冷熱沖擊機(jī)（ATC/TCU）、高低溫卡盤（ThermoChuck）、高低溫測(cè)試臺(tái)、高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)（PCT）、非飽和高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)（HAST）、環(huán)境應(yīng)力篩選系統(tǒng)、高低溫循環(huán)箱、高低溫沖擊箱、氣體制冷機(jī)、氣體溫控器、超低溫制冷機(jī)。為晶圓、芯片、5G通訊、光模塊、集成電路、航空航天、天文探測(cè)、電池包、氫能源等領(lǐng)域的可靠性測(cè)試提供整套溫度環(huán)境解決方案和測(cè)試服務(wù)。中冷低溫設(shè)備已出口俄羅斯、歐盟、泰國(guó)、越南、新加坡、馬來(lái)西亞等。在天津、上海、蘇州、深圳、武漢、重慶、西安設(shè)有辦事處。

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制冷設(shè)備、暖通設(shè)備、檢測(cè)設(shè)備、儀器儀表、泵

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芯片老化測(cè)試Small Burn-in Test system，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、運(yùn)放、電壓調(diào)節(jié)器等集成電路電子元器件實(shí)時(shí)測(cè)試，免去了以往要拿出高低溫箱再進(jìn)行測(cè)試的不便及誤差。

芯片老化測(cè)試Small Burn-in Test system 產(chǎn)品信息

（顯示價(jià)格供參考，實(shí)際價(jià)格以報(bào)價(jià)為準(zhǔn)）

芯片老化測(cè)試Small Burn-in Test system

高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、運(yùn)放、電壓調(diào)節(jié)器等集成電路電子元器件實(shí)時(shí)測(cè)試，免去了以往要拿出高低溫箱再進(jìn)行測(cè)試的不便及誤差。

芯片老化測(cè)試Small Burn-in Test system

◆測(cè)試艙溫度范圍:-55℃至 +150℃(-65℃至 +200℃可選)

◆ 測(cè)試艙溫度穩(wěn)定性:±2℃

◆ 測(cè)試艙溫度穩(wěn)定均勻度:±2℃

◆ 測(cè)試艙升溫時(shí)間:從常溫升溫到+150℃用時(shí)10分鐘

◆ 測(cè)試艙降溫時(shí)間:從常溫降溫到-55℃用時(shí)20分鐘

◆ 測(cè)試艙功率:根據(jù)設(shè)定艙體溫度不同

◆ 冷卻方式:風(fēng)冷機(jī)械制冷，能有效降低工作負(fù)荷更加節(jié)能可靠性更高

◆ 可編程鍵盤:用戶可自定義測(cè)試艙溫度，或按一定比率步進(jìn)設(shè)置溫度變化及溫度循環(huán)

◆ 器件測(cè)試:多工位被測(cè)器件可單步測(cè)試也可以連續(xù)測(cè)試

◆ 接口控制:測(cè)試艙可通過(guò)IEEE總線或RS232端口程控

◆ 測(cè)試艙溫度范圍:-55℃至 +150℃(-65℃至 +200℃可選)