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測(cè)鍍層X熒光光譜儀 規(guī)格:
1.元素分析范圍:硫-鈾(S-U)
2.元素含量分析范圍:1PPM~99.99%
3.zui低檢出限:1PPM
4.鍍層檢驗(yàn)厚度:0.005-50μm(視材料類型而有所不同)
5.樣品腔尺寸:150*120*50(MM)
測(cè)鍍層X熒光光譜儀 應(yīng)用領(lǐng)域:
鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環(huán)保檢測(cè)
CAAM-2001(H)型多功能原子吸收光譜儀
CAAM-2001(E)型多功能原子吸收光譜儀
全譜型ICP電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀
CAAM-2001(F)型多功能原子吸收光譜儀
CAAM-2001(C)型多功能原子吸收光譜儀
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀ICP-OES
ICP-OES電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀ICP-OES
ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀
傅里葉紅外光譜儀
DR3900臺(tái)式可見分光光度計(jì),DR3900實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式光譜儀
JJB 10可諧調(diào)激光光譜激光甲烷檢測(cè)儀(10米)
法國(guó)Pastel UV光譜法快速COD,BOD,硝酸鹽測(cè)定儀
GNR光譜儀
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