Fischerscope XULM240
FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240菲希爾X射線測厚儀是一款性能、設(shè)計緊湊、應(yīng)用廣泛的X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。由先前的XULM-xym換代而來。常用于無損測量細小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在質(zhì)量管控,來料檢驗及生產(chǎn)過程控制中測量使用。
典型應(yīng)用領(lǐng)域比如:
1、對十分微小零部件、接插件和線材的鍍層測量
2、印刷電路板上進行手動測量
3、對珠寶和手表業(yè)中需求的測量
Fischer xulm 240 菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀的比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進行高精度測量。如同所有的Fischerscope x-ray儀器一樣,本款儀器有著出色的精-確性以及長期的穩(wěn)定性,這樣顯著減少了校準儀器所需要的時間和精力。依靠菲希爾Fischer公司的基本參數(shù)法,可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固態(tài)和液態(tài)的成分以及測量樣品的鍍層厚度。Fischer xulm 240x射線鍍層測厚儀配備了微聚焦x射線管以及可電動切換的視準器和基本濾片,因此更適合對微小型工件進行測量。

菲希爾X射線鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240基本技術(shù)規(guī)格:
1、單性金屬鍍層厚度測量。
2、合金鍍層厚度測量。
3、雙鍍層厚度測量。
4、雙鍍層(其中一層是合金)厚度測量。
5、三鍍層厚度測量。
6、測量小區(qū)域:測量點大小約0.09x0.09 mm。
6、測量厚度精度:當Au厚度大于0.1μm時,有標準片校準情況下<±5%,無標準片校準情況下<±10%。<>
























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