名稱：觸摸屏綜合測(cè)試儀
型號(hào)：RS-5610R
產(chǎn)品用途：
本機(jī)適用于各種電容式觸摸屏模組CTP、手機(jī)整機(jī)、平板電腦、、電子詞典等 產(chǎn)品觸摸屏做點(diǎn)擊劃性測(cè)試。滿足電容屏精度測(cè)試、抖動(dòng)測(cè)試、線性度測(cè)試、靈敏度測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間劃線測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間點(diǎn)擊測(cè)試。
高精度：采用日本松下AC伺服馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，日本THK高精度滾珠螺桿傳動(dòng)+日本THK精密線性導(dǎo)軌傳動(dòng)，重復(fù)精度≤0.01mm。
型號(hào)：RS-5610R
產(chǎn)品用途：
本機(jī)適用于各種電容式觸摸屏模組CTP、手機(jī)整機(jī)、平板電腦、、電子詞典等 產(chǎn)品觸摸屏做點(diǎn)擊劃性測(cè)試。滿足電容屏精度測(cè)試、抖動(dòng)測(cè)試、線性度測(cè)試、靈敏度測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間劃線測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間點(diǎn)擊測(cè)試。
高精度：采用日本松下AC伺服馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，日本THK高精度滾珠螺桿傳動(dòng)+日本THK精密線性導(dǎo)軌傳動(dòng)，重復(fù)精度≤0.01mm。
技術(shù)參數(shù)：
| 型號(hào) | RS-5610R |
| 測(cè)試樣品 | 1pcs或2pcs（可以單獨(dú)測(cè)試，也可以兩塊屏輪流測(cè)試） |
| X軸移動(dòng)范圍 | 0～200mm（可根據(jù)客戶要求訂制） |
| Y軸移動(dòng)范圍 | 0～300mm（可根據(jù)客戶要求訂制） |
| Z軸移動(dòng)范圍 | 0～50mm |
| 定位精度控制 | ±0.001mm |
| 重復(fù)精度 | ≤0.01mm |
| X—Y軸移動(dòng)速度 | 0～500mm/sec |
| Z軸移動(dòng)速度 | 0～200 mm/sec |
| Z軸重復(fù)定位精度 | ±0.02mm |
| 砝碼荷重 | 30g，80g，150g，250g |
| 測(cè)頭直徑 | φ3～φ15mm |
| R軸旋轉(zhuǎn)速度 | 1～5sec/3600 |
| 分離軸A、B端行程 | 170mm或指定 |
| A、 B端分離速度 | 1～50mm/sec |
| 模擬&數(shù)字供電電壓范圍 | DC1.2～5V |
| 模擬&數(shù)字供電電壓精度 | ±1mW |
| 數(shù)據(jù)采集頻率 | 100kHz、200 kHz、400 kHz可設(shè) |
| 通訊協(xié)議 | 12C、串口、USB |
| 主機(jī)體積 | W1580 X D1100 X H1520mm |
| 重量 | 約650kg |
| 電源 | AC220V 50Hz 10A |
測(cè)試項(xiàng)目：
●滿足CTP屏廠對(duì)屏的各項(xiàng)性能測(cè)試：更換不同通信協(xié)議端口，可快速實(shí)現(xiàn)不同IC之屏測(cè)試 ；滿足手機(jī)、平板電腦等整機(jī)測(cè)試，通過(guò)WIFI傳輸測(cè)試數(shù)據(jù)給電腦軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)給電腦軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、分析、統(tǒng)計(jì)，并生成PDF、EXCEL測(cè)試報(bào)表；
●點(diǎn)擊精度測(cè)試：根據(jù)客戶不同要求，在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置設(shè)置多點(diǎn)點(diǎn)擊，測(cè)試每個(gè)點(diǎn)的位置偏差，并支持兩點(diǎn)同時(shí)點(diǎn)擊，真實(shí)二檢測(cè)出產(chǎn)品的處理勇力及精準(zhǔn)度；
●劃線線性度測(cè)試：支持平行線、垂直線、對(duì)角線、圓弧等多種圖像來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品的線性偏差?？稍跍y(cè)試區(qū)域內(nèi)任意設(shè)置線距、線數(shù)及弧度的大小，并支持兩點(diǎn)同時(shí)劃線、兩點(diǎn)劃圓等多種測(cè)試方式，達(dá)到更精確的體現(xiàn)產(chǎn)品的特性；
●靈敏度測(cè)試：可設(shè)定不同的劃線軌跡，實(shí)現(xiàn)接觸式劃線或非接觸式劃線，觸筆離產(chǎn)品的高度可按設(shè)定調(diào)節(jié)，并能自動(dòng)找出觸控高度；
●坐標(biāo)抖動(dòng)測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域內(nèi)可設(shè)置多種測(cè)試圖形，并對(duì)每個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行多次讀取，并計(jì)算出偏差值；
●劃線可靠性測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域內(nèi)種測(cè)試圖形，并按特定的時(shí)間及順序進(jìn)行劃線，判定在測(cè)試過(guò)程中是否有斷線現(xiàn)象；
●信噪比測(cè)試：通過(guò)對(duì)產(chǎn)品多點(diǎn)點(diǎn)擊測(cè)試，采集IC采集的信號(hào)值并計(jì)算信噪比；（需IC協(xié)議支持）
●報(bào)點(diǎn)頻率測(cè)試：在測(cè)試我域中心位置觸控產(chǎn)品，多次采集數(shù)據(jù)，計(jì)算出產(chǎn)品發(fā)出數(shù)據(jù)的頻率；
●響應(yīng)時(shí)間測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意點(diǎn)擊，通過(guò)控制觸控并采集計(jì)算出產(chǎn)品的響應(yīng)時(shí)間，支持多點(diǎn)響應(yīng)時(shí)間測(cè)試；
●功耗測(cè)試：通過(guò)高精度毫瓦級(jí)功耗測(cè)試模塊測(cè)試出產(chǎn)品的靜態(tài)及動(dòng)態(tài)功耗；需IC協(xié)議支持）
●分離度測(cè)試：實(shí)現(xiàn)雙觸筆作分離及靠攏動(dòng)作，雙觸筆作分離及靠攏動(dòng)作，雙觸筆在測(cè)試區(qū)域內(nèi)可實(shí)現(xiàn)平行分離靠攏、垂直分離靠攏、45度角分離靠攏動(dòng)作，能過(guò)觸筆移動(dòng)檢測(cè)出產(chǎn)品的兩點(diǎn)最小操作距離，用不同顏色標(biāo)記實(shí)際圖形和觸摸反饋劃線圖形軌跡，程序內(nèi)置9種模擬操作動(dòng)作手勢(shì)測(cè)試；
●滿足CTP屏廠對(duì)屏的各項(xiàng)性能測(cè)試：更換不同通信協(xié)議端口，可快速實(shí)現(xiàn)不同IC之屏測(cè)試 ；滿足手機(jī)、平板電腦等整機(jī)測(cè)試，通過(guò)WIFI傳輸測(cè)試數(shù)據(jù)給電腦軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)給電腦軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、分析、統(tǒng)計(jì)，并生成PDF、EXCEL測(cè)試報(bào)表；
●點(diǎn)擊精度測(cè)試：根據(jù)客戶不同要求，在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置設(shè)置多點(diǎn)點(diǎn)擊，測(cè)試每個(gè)點(diǎn)的位置偏差，并支持兩點(diǎn)同時(shí)點(diǎn)擊，真實(shí)二檢測(cè)出產(chǎn)品的處理勇力及精準(zhǔn)度；
●劃線線性度測(cè)試：支持平行線、垂直線、對(duì)角線、圓弧等多種圖像來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品的線性偏差?？稍跍y(cè)試區(qū)域內(nèi)任意設(shè)置線距、線數(shù)及弧度的大小，并支持兩點(diǎn)同時(shí)劃線、兩點(diǎn)劃圓等多種測(cè)試方式，達(dá)到更精確的體現(xiàn)產(chǎn)品的特性；
●靈敏度測(cè)試：可設(shè)定不同的劃線軌跡，實(shí)現(xiàn)接觸式劃線或非接觸式劃線，觸筆離產(chǎn)品的高度可按設(shè)定調(diào)節(jié)，并能自動(dòng)找出觸控高度；
●坐標(biāo)抖動(dòng)測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域內(nèi)可設(shè)置多種測(cè)試圖形，并對(duì)每個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行多次讀取，并計(jì)算出偏差值；
●劃線可靠性測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域內(nèi)種測(cè)試圖形，并按特定的時(shí)間及順序進(jìn)行劃線，判定在測(cè)試過(guò)程中是否有斷線現(xiàn)象；
●信噪比測(cè)試：通過(guò)對(duì)產(chǎn)品多點(diǎn)點(diǎn)擊測(cè)試，采集IC采集的信號(hào)值并計(jì)算信噪比；（需IC協(xié)議支持）
●報(bào)點(diǎn)頻率測(cè)試：在測(cè)試我域中心位置觸控產(chǎn)品，多次采集數(shù)據(jù)，計(jì)算出產(chǎn)品發(fā)出數(shù)據(jù)的頻率；
●響應(yīng)時(shí)間測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意點(diǎn)擊，通過(guò)控制觸控并采集計(jì)算出產(chǎn)品的響應(yīng)時(shí)間，支持多點(diǎn)響應(yīng)時(shí)間測(cè)試；
●功耗測(cè)試：通過(guò)高精度毫瓦級(jí)功耗測(cè)試模塊測(cè)試出產(chǎn)品的靜態(tài)及動(dòng)態(tài)功耗；需IC協(xié)議支持）
●分離度測(cè)試：實(shí)現(xiàn)雙觸筆作分離及靠攏動(dòng)作，雙觸筆作分離及靠攏動(dòng)作，雙觸筆在測(cè)試區(qū)域內(nèi)可實(shí)現(xiàn)平行分離靠攏、垂直分離靠攏、45度角分離靠攏動(dòng)作，能過(guò)觸筆移動(dòng)檢測(cè)出產(chǎn)品的兩點(diǎn)最小操作距離，用不同顏色標(biāo)記實(shí)際圖形和觸摸反饋劃線圖形軌跡，程序內(nèi)置9種模擬操作動(dòng)作手勢(shì)測(cè)試；
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