高低溫交變沖擊試驗(yàn)箱節(jié)能技術(shù):
高低溫交變沖擊試驗(yàn)箱制冷壓縮機(jī)啟??刂茰囟?溫度波動(dòng)大、嚴(yán)重影響壓縮機(jī)壽命,已淘汰的技術(shù))制冷壓縮機(jī)恒定運(yùn)行+加熱PID控制(導(dǎo)致制冷量與加熱相抵消實(shí)現(xiàn)溫度動(dòng)態(tài)平衡,浪費(fèi)了大量的電能)新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行:低溫工作狀態(tài),加熱器不參與工作,通過ASLI技術(shù)控制調(diào)節(jié)制冷機(jī)組制冷劑流量和流向,對(duì)制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié),實(shí)現(xiàn)對(duì)工作室溫度的自動(dòng)恒定。此方式在低溫工況下,可實(shí)現(xiàn)降低40%的能耗。
高低溫交變沖擊試驗(yàn)箱規(guī)格/SPEC:(可根據(jù)用戶產(chǎn)品尺寸進(jìn)行設(shè)計(jì)定制)
| 型 號(hào): | OK-TS-49 | OK-TS-80 | OK-TS-150 | OK-TS-225 |
| 內(nèi)部尺寸(W×H×D)cm | 40×35×30 | 50×40×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
| 外部尺寸(W×H×D)cm | 145×180×140 | 150×185×145 | 185×150×250 | 190×170×270 |
| 蓄熱區(qū)儲(chǔ)能溫度范圍 | RT (常溫)~+200℃ | |||
| 蓄冷區(qū)儲(chǔ)能溫度范圍 | RT (常溫)~ -70℃ | |||
| 測(cè)試區(qū)實(shí)驗(yàn)溫度范圍 | 熱沖實(shí)驗(yàn)(+60℃~+150℃ ) | |||
| 冷沖實(shí)驗(yàn)(A:0℃~-45℃/ B:0℃~-55℃ / C:0℃~-65℃) | ||||
| 沖 擊 方 式 | 試品靜止(氣動(dòng)氣缸風(fēng)門切換高/低溫箱) | |||
| 蓄熱區(qū)預(yù)熱時(shí)間 | RT~150℃ 約 30分 | |||
| 蓄冷區(qū)預(yù)冷時(shí)間 | RT~-70℃ 約 85分 | |||
| 沖擊恢復(fù)時(shí)間 | 低于5min | |||
| 溫度控制精度 | ±0.5℃ | |||
| 溫度均勻度 | ±2.0℃ | |||
| 冷凍系統(tǒng) | 全密閉式或半密閉式壓縮機(jī),環(huán)保冷媒(R404A/R23) | |||
| 材 質(zhì) | 內(nèi)箱SUS#304鏡面不銹鋼板, 外箱SUS#304不銹鋼板或烤漆。 | |||
| 保溫材質(zhì) | 高強(qiáng)度防火PU發(fā)泡絕緣材料 | |||
| 配 件 | 引線孔:¢50mm 1個(gè)/不銹鋼SUS #304板置物架(二層) | |||
| 電 源 | 電源線位于機(jī)器后面/AC380±5%V /50±0.5Hz /3相5線/長(zhǎng)2.5米 | |||
高低溫交變沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn):
采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面,操作簡(jiǎn)易.
設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分,各區(qū)之箱體釆獨(dú)特之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)。
沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū),做冷熱沖擊測(cè)試。
高溫沖擊或低溫沖擊時(shí),Zui大時(shí)間可達(dá)9999分鐘,zui大循環(huán)周期可達(dá)9999次。
系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)沖擊或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
冷卻采二元冷凍系統(tǒng),降溫效果快速,冷卻方式為風(fēng)冷式或水冷式兩種。
可連接電腦,記錄儀僅為選購件。
彩色LCD液晶觸控式控制器的特點(diǎn):
控制器的各項(xiàng)操作皆以人機(jī)觸控方式進(jìn)行。
人性化的圖控介面讓使用者更容易使用及了解機(jī)械狀態(tài)。
提供及時(shí)線上說明,免除閱讀說明書的困擾。
超大溫度值顯示,提供的顯示效果.
冷熱交替沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法;
2.GB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法;
3.GB/T2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)》試驗(yàn)Ca:恒定交變濕熱試驗(yàn)方法。
4.GB2423.2-2006(IEC68-2-2)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
5.GB/T2423.3-2006(IEC68-2-3)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
6.GB/T2423.4-93(IEC68-2-30)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Da:交變濕熱試驗(yàn)方法
7.GJB150.3(ML-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法
8.GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
9.GJB150.9-1986《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法:濕熱試驗(yàn)》
10.GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn):恒定濕熱試驗(yàn)》
11.GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn):交變濕熱試驗(yàn)》
12.GJB367.2-1987《通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》濕熱試驗(yàn)
13.GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》
14.GB/T5170.5-96《濕度試驗(yàn)設(shè)備》
15.GB/T10592-2008《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
16.GB/T10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
17.GB/T10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
18.GB/T11158-2008《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》



















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