B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,(環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設(shè)定)給被測元件施加一定的偏置電壓。同時控制系統(tǒng)實時檢測每個材料的漏電流,電壓,并根據(jù)預(yù)先設(shè)定,當(dāng)被測材料實時漏電流超出設(shè)定時,自動切斷被測材料的電壓,可以保護被測元件不被進(jìn)一步燒毀。
特點:
每顆器件的Vgs獨立控制
實時監(jiān)測每個試驗器件的Id、Ig
控制上、下電時序
全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel
試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線
漏電流超限保護,自動切斷測量回路
應(yīng)用:
二極管,三極管,MOSFET,IGBT,SBD,GaN Fet, SCR以及各種封裝形式的射頻場效應(yīng)管、射頻功率器件進(jìn)行溫濕度下反偏試驗 。








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