高低溫冷熱循環(huán)沖擊熱流儀TST HTS225用于電子元件或非其他模塊及器件的快速溫度循環(huán)沖擊，進(jìn)行溫度特性和器件表征測試； HTS225的有效溫度范圍常溫（進(jìn)氣溫 度)至+ 225°C。經(jīng)長期的多工況驗證，滿足各類生產(chǎn)環(huán)境和工程環(huán)境的要求。

高低溫冷熱循環(huán)沖擊熱流儀TST HTS225

特點

有效溫度范圍，常溫（進(jìn)氣溫度）至+225℃

觸摸屏操作，人機交互界面

快速DUT溫度穩(wěn)定時間

溫控精度±1℃，顯示精度±0.1℃

緊湊的設(shè)計，很大限度地減少占地面積的要求

設(shè)計，滿足工作環(huán)境的舒適度。

應(yīng)用

產(chǎn)品的特性分析、高低溫溫變測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗，如：

芯片、微電子器件、集成電路

（SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等）

閃存Flash、UFS、eMMC

PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、傳感器、小型模塊組件

光通訊（如：收發(fā)器 Transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）

其它電子行業(yè)、航空航天新材料、實驗室研究

測試標(biāo)準(zhǔn)

滿足美用標(biāo)準(zhǔn)MIL體系測試標(biāo)準(zhǔn)

滿足國內(nèi)元件GJB體系測試標(biāo)準(zhǔn)

滿足JEDEC測試要求

技術(shù)規(guī)格