德國(guó)Mahr馬爾MAROPTO FI 1040 Z FIZEAU 干涉儀
可用于平面和球面40 mm Fizeau 干涉儀
40 mm Fizeau 干涉儀,可用于平面和球面
MarOpto FI 1040 Z 是一款功能*的干涉儀,可以提供平面和球面以及透射波陣面非接觸測(cè)量。MarOpto FI 1040 Z 是測(cè)量平晶、棱鏡和鏡頭或精密金屬工件(包括軸承、密封表面和拋光陶瓷)等光學(xué)組件的理想選擇??梢酝ㄟ^簡(jiǎn)單的干涉條紋檢測(cè)、IntelliPhase 靜態(tài)空間載波分析或相位調(diào)制干涉圖分析來(lái)執(zhí)行測(cè)量。MarOpto FI 1040 Z 可提供現(xiàn)在的工業(yè)應(yīng)用需要的靈活性和優(yōu)異的性能。
6x / 3x 縮放,適合MAX直徑 1.5 mm 的工件
3 種干涉圖分析模式:相移,IntelliPhase – 靜態(tài)空間載波分析,或條紋跟蹤(自動(dòng)或手動(dòng))
尺寸小,方便集成到 OEM 系統(tǒng)。
緊湊耐用的設(shè)計(jì)
從 F / 0.7 到 F / 6.0 的透射球面
德國(guó)Mahr馬爾MAROPTO FI 1040 Z FIZEAU 干涉儀應(yīng)用
小型光學(xué)元件的透射和表面測(cè)試
光學(xué)元件、車削零件、陶瓷、半導(dǎo)體和晶圓的測(cè)量
集成曲率半徑測(cè)量













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