一、概 述:
EXPLORER采用模塊化設(shè)計(jì),全部組件可以進(jìn)行拆分為7個(gè)模塊,同時(shí)可以在5個(gè)獨(dú)立自由度上檢測(cè)樣品。同時(shí)EXPLORER可以提供多種配置,如范圍更寬的X射線源、光路、樣品臺(tái)和檢測(cè)器等,可以滿足各種應(yīng)用需求。此外將直接傳動(dòng)轉(zhuǎn)矩馬達(dá)與優(yōu)勢(shì)的光學(xué)編碼器相結(jié)合,確保了儀器的傳動(dòng)速度和精度,可以勝任各類樣品的定性和定量分析。
二、應(yīng)用范圍:
EXPLORER可以進(jìn)行常規(guī)的晶相識(shí)別和相定量,可以分析晶體尺寸、晶格應(yīng)變及結(jié)晶度的計(jì)算。也可以定量分析殘留奧氏體、多晶物篩查、晶體結(jié)構(gòu)分析、殘余應(yīng)力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向和納米粒子分析。
















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