移動式高低溫冷熱沖擊試驗箱廣泛用於電子電器零元件、自動化零部件、通訊元件汽車配件、金屬、 化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)航太、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳電子晶片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品於熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的元件，可作為其產(chǎn)品改進的依據(jù)或參考。

移動式高低溫冷熱沖擊試驗箱的性能參數(shù)參考如下：

一、低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（廠家還免費配高溫至150度）。

二、溫度偏差：±2℃。

三、溫度波動度：±0.5℃。

四、溫度恢復(fù)時間：≤5min。

五、溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。

六、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式：采用氣動驅(qū)動。   

七、高溫室儲溫的升溫時間：30min (+25℃～+200℃)。

八、低溫室儲溫的降溫時間：65min (+25℃～-75℃)。

九、低溫沖擊試驗機|低溫沖擊機|沖擊試驗機工作時的噪音：（dB）≤65( 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定≤65分貝不算噪音）

十、型號             內(nèi)箱尺寸（mm)             外箱尺寸（mm）           功率（kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5       

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0

移動式高低溫冷熱沖擊試驗箱符合標(biāo)準(zhǔn)
GJB360.7-87溫度沖擊試驗;
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗;
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱--- -箱式;
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱---箱式;
滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;
GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則;
GB/T 2423.22-2002溫度變化;