
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗方法
GB11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件(溫度交變)
GB/2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)鏡試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫1:2007
GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 IEC 60068-2-2:2007
GB/T2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 IEC60068-2-14
GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:低溫試驗


















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