表面絕緣阻抗測(cè)試(SIR)
(Surface Isolation Resistance Test )

應(yīng)用:
離子遷移測(cè)試評(píng)估
絕緣電阻性能劣化測(cè)試評(píng)估
a.印刷電路板,焊劑,焊錫等電子組裝材料
b.BGA,CSP等微間距圖形(Fine-pitch Pattern) IC封裝
c.PDP
d.電容器,連接器
特色:
絕緣電阻量測(cè)范圍 1E+6~ 1E+13 歐姆
獨(dú)立測(cè)試電壓與量測(cè)電壓分別設(shè)定
應(yīng)力電壓輸出范圍:0~500V
模組化通道設(shè)計(jì),可獨(dú)立操作使用
由軟件設(shè)定的校正功能
實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)或圖形顯示
結(jié)果分析圖表顯示




















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