立式HAST 高溫高壓老化試驗箱
HAST高溫高壓老化試驗箱是一種加速老化測試設(shè)備,可模擬高溫、高濕及高壓環(huán)境,用于評估電子元器件、半導(dǎo)體、微電子芯片等產(chǎn)品的可靠性與耐久性。
該設(shè)備適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠及制藥等行業(yè)產(chǎn)品的加速壽命試驗,可在產(chǎn)品設(shè)計階段快速暴露缺陷與薄弱環(huán)節(jié)。其應(yīng)用范圍涵蓋線路板、多層線路板、IC半導(dǎo)體、LCD、磁鐵等產(chǎn)品的密封性能檢測,可有效測試制品的耐壓性與氣密性。
產(chǎn)品特點:
采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu),在上降低了使用故障率。
獨立蒸汽發(fā)生室,避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品,以免造成產(chǎn)品局部破壞。
門鎖省力結(jié)構(gòu),解決代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。
試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設(shè)計(試驗桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.
超長效實驗運轉(zhuǎn)時間,長時間實驗機臺運轉(zhuǎn)1000小時以上.
水位保護(hù),透過試驗室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).
tank耐壓設(shè)計,箱體耐壓力(150℃)2.65kg,符合水壓測試4kg.
二段式壓力安全保護(hù)裝置,采兩段式結(jié)合控制器與機械式壓力保護(hù)裝置.
安全保護(hù)排壓鈕,警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .
偏壓測試端子耐壓可達(dá)3000V(選配)
USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù),曲線.
基本參數(shù):
| 內(nèi)箱尺寸 | (∮260 mm×L400 mm)*2 圓型試驗箱 |
測試方式 | 105.0~133.3℃/99%RH |
測試溫度 | 110~140℃/85%RH |
溫度范圍 | 118.0~150.0℃/65%RH |
設(shè)定溫度 | +100 ℃ ~ +140 ℃( 蒸氣溫度 ) |
濕度范圍 | 65~99%RH 蒸氣濕度 |
濕度控制穩(wěn)定度 | ±3%RH |
使用壓力 | 1.2~2.89kg(含1atm) |
時間范圍 | 0 Hr ~ 999 H |
加壓時間 | 0.00 Kg ~ 1.04 Kg / cm2 約 35 分 |
溫度均勻度 | ±2℃ |
壓力波動均勻度 | ±0.1Kg |
| 濕度分布均勻度 | ±5%RH |
溫度顯示精度 | 0.1℃ |
濕度顯示精度 | 99%RH |
壓力顯示精度 | 0.1 Kg / cm2 |
適用標(biāo)準(zhǔn):
GB/T2423.40-1997
IEC60068-2-66-1994
JESD22-A100
JESD22-A101
JESD22-A102
JESD22-A108
JESD22-A110
JESD22-A118


















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