瞬態(tài)小組件I-V測(cè)試儀(實(shí)驗(yàn)室)主要是用來(lái)模擬太陽(yáng)光和采集晶硅光伏電池的伏安特性曲線的設(shè)備,一般由光源系統(tǒng)、電源系統(tǒng)、采集系統(tǒng)、紅外測(cè)溫探頭、參考電池、顯示器、計(jì)算機(jī)(含測(cè)試軟件)等組成。采用滿(mǎn)足IEC60904-9:2020標(biāo)準(zhǔn)的A+A+A+級(jí)的氙燈瞬態(tài)光源,輻照強(qiáng)度滿(mǎn)足200-1200W/m2可調(diào),設(shè)備具備溫度修正和光強(qiáng)修正功能,以及對(duì)輻照度狀態(tài)的監(jiān)控功能。該設(shè)備可用于常規(guī)多晶、單晶PERC、TopCon、異質(zhì)結(jié)、CIGS、GaAs、CdTe以及IBC等電池組件的I-V曲線,P-V曲線,輻照度線,短路電流,開(kāi)路電壓,峰值功率,峰值功率點(diǎn)電壓、電流,填充因子,轉(zhuǎn)換效率,串聯(lián)電阻,并聯(lián)電阻等參數(shù)的測(cè)量。
瞬態(tài)小組件I-V測(cè)試儀(實(shí)驗(yàn)室)主要產(chǎn)品參數(shù)
適配標(biāo)準(zhǔn) Standard | IEC60904-9:2020 | IEC60904-9:2020 |
光源類(lèi)型 Light type | 氙燈瞬態(tài)光源 | Xenon lamp |
光譜范圍 Spectrum wavelength | 300-1200nm | 300-1200nm |
光源等級(jí) Classfication of light source | 光譜匹配度 0.875-1.125 A+ 輻照度不均勻度 ≤1% A+ 輻照度不穩(wěn)定度 ≤1% A+ | Spectral match is 0.875-1.125, class A+ Irradiance non-uniformity is ≤1%, class A+ Irradiance instability is ≤1%, class A+ |
輻照度范圍 Irradiance intensity | 200W/㎡~1200W/㎡ | 200W/㎡~1200W/㎡ |
測(cè)試面積 Illumination area | ? 500*500mm ? 可定制其他尺寸 | ? 500*500mm ? Other size can be customized |
脈沖寬度 Pulse duration | 10-100ms,每1ms步進(jìn)可調(diào) | 10-100ms, in step of 1ms |
重復(fù)性精度 Repeatability | ≤0.1% | ≤0.1% |
測(cè)試技術(shù) Testing technology | 標(biāo)配線性?huà)呙?、高?jí)遲滯算法、集成逐次逼近法(SAT)、智能測(cè)試法(IAT)、峰值保持測(cè)試功能 | It is equipped with linear scanning, advanced magnetic hysteresis, successive approximation testing(SAT), Intelligent testing (IAT) and peak holding test function. |
測(cè)試電池 Measurable cell type | Perc、 Topcon、BC、異質(zhì)結(jié)等高容性電池組件 | PERC, TopCon, BC, HJT and other high capacitance solar modules. |
可增配項(xiàng) Optional service | ? EL測(cè)試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)同工位IV/EL測(cè)試 ? 集成IR紅外熱像儀,實(shí)現(xiàn)熱斑測(cè)試 ? WPVS電池,實(shí)現(xiàn)絕對(duì)測(cè)量 ? 低輻照度濾鏡,實(shí)現(xiàn)低輻照度測(cè)試 | ? EL testing system, to achieve IV testing and EL testing at a same section. ? Integrated IR infrared thermal imager to realize heat spot testing ? WPVS battery, to achieve absolute measurement. ? Equip with optical filter for low irradiance test |




















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