小型冷熱沖擊試驗箱 為靜態(tài)風(fēng)路切換結(jié)構(gòu)，樣品放置中間試驗區(qū)全程不動，避免吊籃移動帶來的振動干擾。支持高溫、低溫、常溫三段沖擊，滿足GB、IEC、JESD、車規(guī)電子溫度沖擊測試。用來快速篩選PCB、連接器、LED、傳感器、芯片等產(chǎn)品，排查冷熱驟變下脫焊、開裂、功能失效等隱性缺陷。適合研發(fā)實驗室、來料可靠性驗證。如果樣品體積大或者預(yù)算有限、樣品不怕振動，可以推薦兩箱機型。

產(chǎn)品名稱：三箱式冷熱沖擊試驗箱  （風(fēng)冷式）

型號：3AP-CJ-27A

內(nèi)容積：27L

內(nèi)箱尺寸：300 *300 *300mm   　 (W* H *D)

外型尺寸(約)1200*1800*1700mm     (W* H *D)具體以實際尺寸為為準(zhǔn)

測試室溫度范圍：-40℃～+150 ℃ (風(fēng)冷式)

低溫沖擊范圍：-10℃～-40 ℃  （任意可調(diào)）

高溫沖擊范圍：60℃～150 ℃   （任意可調(diào)）

預(yù)熱溫度范圍：RT～+165℃

升溫時間：+50℃→+165℃ ≤40min注：升溫時間為高溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能

預(yù)冷溫度范圍：RT～-55℃

降溫時間：+20℃ → -55℃≤約60min注：降溫時間為低溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能

小型冷熱沖擊試驗箱PCB基板經(jīng)過數(shù)百次高低溫沖擊測試后，可排查銅箔分層、線路斷裂、阻焊層脫落等隱性質(zhì)量問題，保障電路板在復(fù)雜工況下的長期運行可靠性。除此之外，它還廣泛適配汽車配件、航空航天產(chǎn)品、金屬與高分子材料等多個行業(yè)的測試需求，既可以滿足GB/T2423、GJB150等國標(biāo)軍標(biāo)的合規(guī)性測試要求，也能作為研發(fā)階段的環(huán)境應(yīng)力篩選工具，提前剔除產(chǎn)品設(shè)計與生產(chǎn)環(huán)節(jié)的早期缺陷，最終幫助企業(yè)提升產(chǎn)品品質(zhì)、降低售后故障率。