不僅做動(dòng)態(tài)老化，還具備DUT（受測(cè)器件：DeviceUnderTest）的輸出信號(hào)監(jiān)視功能。用這個(gè)功能對(duì)DUT的動(dòng)作進(jìn)行監(jiān)視，防止篩選漏網(wǎng)，主要試驗(yàn)對(duì)象為SDRAM，SRAM等內(nèi)存類。