行業(yè)難點(diǎn)幾何尺寸及瑕疵等測量是電子產(chǎn)品品質(zhì)控制的一部分，但傳統(tǒng)的檢測手段難以高效的完成所要求的測量項(xiàng)目，通常需要在多臺設(shè)備，或多個傳感器協(xié)同測量，效率較低，甚至一些復(fù)雜的內(nèi)腔尺寸的檢測無法測量