一、適用范圍適用于航空航天產(chǎn)品,信息電子儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、機(jī)械以及其他產(chǎn)品、零部件、材料等進(jìn)行高低溫試驗(yàn),模擬溫度變化條件下對(duì)產(chǎn)品、零部件、材料等進(jìn)行質(zhì)量及可靠性測(cè)試