電子元器件高低溫循環(huán)試驗箱是科文KW-GD系列里的一款高低溫可靠性試驗箱，用于測試各類電子產(chǎn)品，電子元器件在高溫，低溫，高低溫恒溫，高低溫循環(huán)，高低溫交變等溫度環(huán)境下使用或儲存時產(chǎn)品的適應(yīng)性及可靠性能