HP3545-Y是一款專業(yè)級(jí)四探針方阻測(cè)試儀，基于經(jīng)典四線制測(cè)試原理,專為材料表面方阻測(cè)量與體積電阻率的精確測(cè)量而設(shè)計(jì)。采用高精度、低溫漂、高集成芯片控制回路設(shè)計(jì)，使其在低電阻級(jí)別測(cè)量方面表現(xiàn)更優(yōu)異，更準(zhǔn)確穩(wěn)