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半導(dǎo)體芯片粘附力試驗(yàn)機(jī)?主要功能和用途
點(diǎn)擊次數(shù)：37 發(fā)布時間：2025-12-8
半導(dǎo)體芯片粘附力試驗(yàn)機(jī)?是一種用于測試芯片粘結(jié)強(qiáng)度的設(shè)備，主要用于評估芯片與基板或其他附著材料之間的結(jié)合強(qiáng)度。這類試驗(yàn)機(jī)通常具備高精度的力學(xué)測試功能，能夠模擬各種力學(xué)環(huán)境，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
半導(dǎo)體芯片粘附力試驗(yàn)機(jī)?主要功能和用途：
芯片粘結(jié)力試驗(yàn)機(jī)的主要功能包括拉伸性能測試、剪切強(qiáng)度測試、粘接強(qiáng)度測試等。通過施加特定的力值并觀察芯片與底座或附著材料之間的脫離情況，以此來評估芯片粘接的牢固程度和材料工藝步驟的完整性。這類設(shè)備廣泛應(yīng)用于高性能計算、移動通信、軍事航天等領(lǐng)域，確保在這些領(lǐng)域中使用的芯片能夠承受各種力學(xué)環(huán)境的影響?。
操作方式和操作環(huán)境
芯片粘結(jié)力試驗(yàn)機(jī)通常采用全電腦控制，操作界面友好，支持中文和英文，部分機(jī)型還支持多國語言。試驗(yàn)過程中，可以通過軟件進(jìn)行精確控制，測試速度可在0.001~500mm/min范圍內(nèi)調(diào)節(jié)。設(shè)備具有電子限位保護(hù)和緊急停止功能，確保操作安全?。
半導(dǎo)體芯片粘附力試驗(yàn)機(jī)?技術(shù)參數(shù)：
1. 產(chǎn)品規(guī)格： HY-0350
2． 精度等級： 0.5級
3． 負(fù)荷：1N 5N 10N 20N 50N
4． 有效測力范圍：0.1/100-100;
5． 試驗(yàn)力分辨率，負(fù)荷±500000碼；內(nèi)外不分檔，且全程分辨率不變。
6． 有效試驗(yàn)寬度：250mm
7． 有效試驗(yàn)空間：100mm
8． 試驗(yàn)速度:：0.001~500mm/min(任意調(diào))
9. 速度精度：示值的±0.5%以內(nèi)；
10．位移測量精度：示值的±0.5%以內(nèi)；
11．變形測量精度：示值的±0.5%以內(nèi)；
12．應(yīng)力控速率范圍： 0.005%～6％FS/S
13．應(yīng)力控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±1%以內(nèi)；速率≥0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±0.5%以內(nèi)；
14．應(yīng)變控速率范圍： 0.002%～6％FS/S
15．應(yīng)變控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±2%以內(nèi)；速率≥0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±0.5%以內(nèi)；
16. 恒力/位移/變形測量范圍：0.5％～100FS
17．恒力/位移/變形測量精度：設(shè)定值＜10％FS時, 為設(shè)定值的±1%以內(nèi)； 設(shè)定值≥10％FS時, 為設(shè)定值的±0.1%以內(nèi)；
18．試臺升降裝置：快/慢兩種速度控制，可點(diǎn)動；
19．試臺安全裝置：電子限位保護(hù)
20．試臺返回：手動可以高速度返回試驗(yàn)初始位置，自動可在試驗(yàn)結(jié)束后自動返回；
21．試驗(yàn)定時間自動停車,試驗(yàn)定變形自動停車,試驗(yàn)定負(fù)荷自動停車
22．超載保護(hù)：超過大負(fù)荷10%時自動保護(hù)；
23. 自動診斷功能，定時對測量系統(tǒng)、驅(qū)動系統(tǒng)進(jìn)行過載、過壓、過流、超負(fù)荷等檢查，出現(xiàn)異常情況立即進(jìn)行保護(hù)
24．電源功率： 400W
25．主機(jī)重量： 95kg
26. 電源電壓: 220V（單相）
27. 主機(jī)尺寸：500*600*800mm
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