成都中冷低溫科技有限公司
詳細(xì)摘要： （售價僅供參考）ThermoTST ATC860接觸式高低溫沖擊機熱流儀，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2026-07-27 在線留言
詳細(xì)摘要： （售價僅供參考）ThermoTST ATC860接觸式高低溫沖擊機熱流儀，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接...
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詳細(xì)摘要： （售價僅供參考）ThermoTST ATC860接觸式高低溫?zé)崃鲀x，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的...
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詳細(xì)摘要： 熱流儀高低溫沖擊氣流儀TS580B，具有更泛的溫度范圍-80℃到+225℃，提供了很強的溫度轉(zhuǎn)換測試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒 ; 經(jīng)...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2026-07-27 在線留言
詳細(xì)摘要： CT系列緊湊型高低溫超低溫冷阱為大型真空系統(tǒng)設(shè)計，針對液氮應(yīng)力提供了緊湊、易于使用而且安全的替代方案，不再需要需沉重的杜瓶。CT系列緊湊型超低溫冷阱是一個閉環(huán)的...
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詳細(xì)摘要： 高低溫CT Series Cryo Trap，CT系列緊湊型超低溫冷阱為?型真空系統(tǒng)設(shè)計，針對液氮應(yīng)?提供了緊湊、易于使?且安全的替代?案，?需沉重的杜?瓶。C...
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詳細(xì)摘要： zonglenTS590高低溫沖擊熱流儀，具有更泛的溫度范圍-90℃到+225℃，提供了很強的溫度轉(zhuǎn)換測試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒 ...
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詳細(xì)摘要： zonglenTS590高低溫沖擊熱流儀，具有更泛的溫度范圍-90℃到+225℃，提供了很強的溫度轉(zhuǎn)換測試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒 ...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2026-07-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 高低溫冷熱循環(huán)沖擊熱流儀TST HTS225用于電子元件或非其他模塊及器件的快速溫度循環(huán)沖擊，進行溫度特性和器件表征測試； HTS225的有效溫度范圍常溫（進氣...
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詳細(xì)摘要： 高低溫沖擊氣流儀TS760B具有更廣泛的溫度范圍-70℃到+225℃，提供了很強的溫度轉(zhuǎn)換測試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒 ; 經(jīng)長期的...
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詳細(xì)摘要： 高低溫冷熱沖擊氣流儀TS580B，具有更廣泛的溫度范圍-70℃到+225℃，提供了很強的溫度轉(zhuǎn)換測試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒 ; 經(jīng)...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2026-07-27 在線留言
詳細(xì)摘要： zonglen高低溫冷熱循環(huán)沖擊機HTS280用于電子元件或非其他模塊及器件的快速溫度循環(huán)沖擊，進行溫度特性和器件表征測試； HTS280的有效溫度范圍常溫（進...
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詳細(xì)摘要： 高低溫冷熱循環(huán)測試機TS345，具有更廣泛的溫度范圍-55℃到+225℃，提供了很強的溫度轉(zhuǎn)換測試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-40℃到+125℃之間轉(zhuǎn)換約15秒 ; 緊湊...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2026-07-27 在線留言
詳細(xì)摘要： （售價僅供參考）ThermoTST ATC860 plus接觸式高低溫?zé)崃鲀x，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2026-07-27 在線留言
詳細(xì)摘要： （售價僅供參考）接觸式高低溫?zé)崃鲀xATC860 plus，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2026-07-27 在線留言
詳細(xì)摘要： （售價僅供參考）zonglen接觸式高低溫?zé)崃鲀xATC860 plus，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2026-07-27 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST高低溫試驗箱老化試驗機，試驗箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2026-07-27 在線留言
詳細(xì)摘要： ECM-HAST CAF測試系統(tǒng) HAST老化試驗箱，CAF測試也叫離子遷移測試，CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質(zhì)的實驗方法。該測試通常用于檢測包裝材...
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詳細(xì)摘要： HIRAYAMA高加速壽命試驗箱HAST維修服務(wù)，試驗箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2026-07-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 緊湊型超低溫 冷阱，CT系列緊湊型超低溫冷阱為大型真空系統(tǒng)設(shè)計，針對液氮應(yīng)力提供了緊湊、易于使用而且安全的替代方案，不再需要需沉重的杜瓶。CT系列緊湊型超低溫冷...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2026-07-27 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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