HAST 高溫高壓老化試驗箱

HAST高溫高壓老化試驗箱?是一種用于加速老化測試的設備，主要用于模擬高溫、高濕和高壓環(huán)境，以評估電子元器件、半導體、微電子芯片等產(chǎn)品的可靠性和耐久性。

適合國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、制藥等行業(yè)相關之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。

廣泛應用于線路板,多層線路板,IC半導體,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。

產(chǎn)品特點：

•  采用進口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，在上降低了使用故障率。

•  獨立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

•  門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。

•  試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設計(試驗桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

•  超長效實驗運轉(zhuǎn)時間，長時間實驗機臺運轉(zhuǎn)1000小時以上.

•  水位保護，透過試驗室內(nèi)水位Sensor檢知保護.

• tank耐壓設計，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試4kg.

•   二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機械式壓力保護裝置.

•  安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .

•  偏壓測試端子耐壓可達3000V(選配）

•  USB導出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.

基本參數(shù)：

適用標準：

GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱

JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗?jié)裥詽B透）

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗

JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）