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顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1

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MicroTEQ-B1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，具備透反射測(cè)量功能

詳細(xì)介紹

MicroTEQ-B1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，具備透反射測(cè)量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式，形成了較小的收光面；除此之外，視野+成像+收光+物面的共軛，可使觀察和測(cè)試同時(shí)進(jìn)行。系統(tǒng)中的顯微反射測(cè)量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡，滿足客戶對(duì)顯微鏡的不同需求。

成像照片

下圖為使用10X物鏡對(duì)50um小孔進(jìn)行透射率測(cè)量時(shí)的聚焦和實(shí)測(cè)畫(huà)面。

實(shí)測(cè)圖譜

系統(tǒng)參數(shù)

型號(hào)	MicroTEQ-B1
光譜儀	可根據(jù)情況自行選配
顯微反射測(cè)量模塊	兼容大部分主流顯微鏡
尺寸	220x172x68 mm
重量	2.8 kg
支持波段	400-700 nm
反射照明支持相機(jī)尺寸	1/2"
測(cè)量光斑	10 um @ 10x 物鏡 @ 100 um 光纖
測(cè)量光斑	50 um @ 10x 物鏡 @ 500 um 光纖