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現(xiàn)貨供應(yīng)SLP-2000散亂光光彈性應(yīng)力儀

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參考價: ￥ 292000

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深圳市田野儀器有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：102條

所在地區(qū)：廣東深圳市

聯(lián)系人：黃生（經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡介

微晶玻璃應(yīng)力儀、無損結(jié)晶玻璃內(nèi)應(yīng)力測試儀器SLP-2000是檢測微晶玻璃應(yīng)力測定技術(shù)中為數(shù)不多的無損檢測法之一，是根據(jù)微晶材料或玻璃制品晶面間距的變化測定應(yīng)力的，今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的化學(xué)強(qiáng)化玻璃應(yīng)力分析和檢測方法之一，被廣泛的應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)的各領(lǐng)域。華南維修SLP-2000 二強(qiáng)微晶玻璃應(yīng)力儀升級、校準(zhǔn)一站式服務(wù)、現(xiàn)貨供應(yīng)SLP-2000散亂光光彈性應(yīng)力儀

詳細(xì)介紹

SLP-2000散亂光光彈性應(yīng)力儀可應(yīng)對二強(qiáng)玻璃，微晶玻璃，鋰鋁硅玻璃等行業(yè)用戶研發(fā)的新品,SLP-2000工作原理是利用雙折射來改變極化激光束的延遲，并且散亂光的強(qiáng)度隨著激光束的延遲的變化而改變，通過偏振光光路上因激光束的延遲而出現(xiàn)的光程差和偏振特性來計算表面壓應(yīng)力和壓應(yīng)力層厚度。全自動散亂光應(yīng)力儀為用于測量化學(xué)強(qiáng)化和物理強(qiáng)化玻璃的內(nèi)應(yīng)力。特點在于采用無損檢測方式，使用操作方便，既縮短了測量所需時間，又對玻璃生產(chǎn)過程進(jìn)行及時監(jiān)控，能很好的分析化學(xué)鋼化玻璃的內(nèi)應(yīng)力分布情況，進(jìn)而判斷產(chǎn)品的鋼化程度。
現(xiàn)貨供應(yīng)SLP-2000散亂光光彈性應(yīng)力儀

二 ·產(chǎn)品相關(guān)技術(shù)參數(shù)要求：
1. 測定對象：化學(xué)強(qiáng)化玻璃、鈉離子應(yīng)力測試儀、微晶玻璃、鋰鋁硅玻璃等
2. 測定形狀：平面- 1000R 10*10mm 以上
3. 測定范圍：應(yīng)力值 0-2000Mpa 、應(yīng)力層高層度 10-600 μm
4. 測定分辨能力：應(yīng)力 5Mpa 高層度 5 μm
5. 測定精度：從表面算起 50μm 之后應(yīng)力值±10MPa 高層度±10 μm (以標(biāo) 準(zhǔn)片為基準(zhǔn))
6. 光源：LD 518nm 30mW Glass3B 棱鏡： S-LAL- 10 ND=1.518
7. PC： (Windows 10、測量軟件已安裝)
8. 電源： AC220V±5V
9. 尺寸： 300×600×200mm
10. 重量：約 16kg
三 ·產(chǎn)品其他配置要求
1. DELL 主機(jī)；
2. CPU：inter core i3及以上；
3. 系統(tǒng)及軟件；
4. Windows 10 professional edition 64bit；
5. SLP 分析、計算軟件；
6. PMC 擬合軟件；
7.包含主板、視頻/音頻、網(wǎng)卡、顯示器、操作系統(tǒng)、鍵盤、鼠標(biāo)等配件。
四 ·產(chǎn)品其他類要求
1. 電腦自動保存數(shù)據(jù)，輸出 excel 文檔。
2. 至少使用 518nm，及其以下的光源，使用壽命長，達(dá)到 10,000 小時。
3. 配備玻璃校準(zhǔn)片可將機(jī)器 CS-50、DOL-0、CT-CV 等參數(shù)誤差控制到較小，同一樣品測試 9 次，極差 CS-50＜15MPa、DOL-0＜5μm、CT-CV＜5MPa、CT-LD 小于2000MPa/mm、
4 . 除了連續(xù)測量，也可以自由選擇單次測量、手動測量等測量方式。
5 . 測定精度:從表面算起50μm之后應(yīng)力值±10MPa深度±10μm(以標(biāo)準(zhǔn)片為基準(zhǔn))
6 . 有詳細(xì)的儀器操作指導(dǎo)書，包括如何測試樣品、如何調(diào)整測試偏差，如何解決儀器日常 BUG，有技術(shù)人員直接聯(lián)系對接
7 . 針對不同類型樣品，軟件可以單獨進(jìn)行分案并且進(jìn)行參數(shù)匹配。當(dāng)測該類型樣品時，直接打開該分案即可，不用再頻繁調(diào)試參數(shù)。
8. 滿足高結(jié)晶度樣品測試，不會因為結(jié)晶關(guān)系導(dǎo)致測試界面曝光度過大，導(dǎo)致無法測試