特色

SPD2200具備全光譜性能測試包含：

*全光譜光譜響應(yīng)（SR, Spectral Responsivity）

*全光譜量子效率（EQE, External Quantum Efficiency）

*全光譜光子探測率（PDP, Photon Detection Probability）

*暗計(jì)數(shù)DCR （Dark Count Rate）

*崩潰電壓BDV （Break-Down Voltage）

SPD2200亦能夠測試SPD的單光子辨析特性分析，包含：

*Jitter

*Afterpulsing probability

*Diffusion tail

*SNR

SPD2200整合了所有優(yōu)良光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng)，搭配光焱科技多年光傳感器測試與分析的經(jīng)驗(yàn)，提供完整與便利的軟件控制接口與分析功能。SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設(shè)的時間成本，并降低測試結(jié)果的不確定性。加快產(chǎn)品的開發(fā)周期，提升產(chǎn)品的競爭力。

實(shí)證

*SPAD的暗計(jì)數(shù)與偏壓關(guān)系圖

*SPAD暗計(jì)數(shù)與崩潰電壓

*在不同電壓下SPAD光子探測效率的PDE光譜

*SPAD的Jitter測量