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X-RAY XDVM-微觀結(jié)構(gòu)鍍層測(cè)量系統(tǒng)

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蘇州圣光儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

新型號(hào)的FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-是一款可靠的采用X-射線熒光方法和獨(dú)特的微聚焦X-射線光學(xué)方法來測(cè)量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測(cè)量系統(tǒng)

詳細(xì)介紹

X-RAY XDVM-µ微觀結(jié)構(gòu)鍍層測(cè)量系統(tǒng)

新型號(hào)的FISCHERSCOPE^® X-RAY XDVM^®-µ是一款可靠的采用X-射線熒光方法和獨(dú)特的微聚焦X-射線光學(xué)方法來測(cè)量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測(cè)量系統(tǒng)。

它的出現(xiàn)解決了分析和測(cè)量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰(zhàn)。這種**技術(shù)的，目前正在申請(qǐng)磚利的X-射線光學(xué)可以使得在很小的測(cè)量面積上產(chǎn)生很大的輻射強(qiáng)度，這就可以在小到幾十微米的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行測(cè)量。

在經(jīng)濟(jì)上遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于多元毛細(xì)透鏡的Fischer專有X-射線光學(xué)設(shè)計(jì)使得能夠在非常精細(xì)的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行厚度測(cè)量和成分分析。XDVM-µ可以勝任測(cè)量傳統(tǒng)的鍍層厚度測(cè)量儀器由于X-射線熒光強(qiáng)度不夠而無法測(cè)量到的結(jié)構(gòu)。

具有功能的X-射線XDVM-µ帶WinFTM^® V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達(dá)24種獨(dú)立元素的多鍍層的厚度和成分。

HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。通過對(duì)所有相關(guān)過程包括X射線熒光測(cè)量法的**處理和使用了*新的軟件和硬件技術(shù)，FISCHER公司的X射線儀器具有其獨(dú)特的特點(diǎn)。

有一無二的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測(cè)量精度的情況下測(cè)量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時(shí)可以對(duì)包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析（使用WinFTM® V.6軟件）

典型的應(yīng)用范圍如下：

單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。

三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。

雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

*多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。

分析多達(dá)4種（或24種－使用V.6軟件）元素。

分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。

	FISCHERSCOPE^® X-RAY XDVM^®-µ
測(cè)量方向	從上往下
X-射線管型號(hào) W: 鎢管 MW: 微聚焦鎢管	MW
可調(diào)節(jié)的高壓 30kV; 40kV; 50kV
開槽的測(cè)量箱體
基本Ni濾波器
接收器(Co) 可選擇的 WM-版本
數(shù)準(zhǔn)器數(shù)目	1
z-軸	可編程的
測(cè)量臺(tái)類型	可編程的XY工作臺(tái)
測(cè)試點(diǎn)的放大倍率	30 - 1108 x
DCM方法 (距離控制測(cè)量)
WinFTM^® 版本	V.6 標(biāo)準(zhǔn)
操作系統(tǒng)： Windows XP prof.

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