北京依維特技術(shù)服務(wù)有限公司
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹RegulusSU8010是日立的SEM的全新品牌，新品牌Regulus系列電子光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行了化處理，使得著陸電壓在1kV時(shí)分辨率較前代機(jī)型提高了約20...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2025-09-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹RegulusSU8010是日立的SEM的全新品牌，新品牌Regulus系列電子光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行了化處理，使得著陸電壓在1kV時(shí)分辨率較前代機(jī)型提高了約20...
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹ThermoScientificQuattroESEM將成像和分析的性能與獨(dú)特的環(huán)境模式(ESEM)結(jié)合在一起，可在自然狀態(tài)下研究樣品
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹AutosorbiQ全自動(dòng)比表面和孔隙度分析儀與同類產(chǎn)品相比具有以下無(wú)二的特征包括：性能/價(jià)格比：儀器具有4個(gè)分析站和4個(gè)脫氣站，相當(dāng)于4臺(tái)同類單站儀器...
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹島津UV－3600是的高性能的紫外可見(jiàn)近紅外分光光度計(jì)，
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹核磁共振儀主要用于有機(jī)化合物、生物蛋白質(zhì)分子的結(jié)構(gòu)確證、鑒定或結(jié)構(gòu)、空間的構(gòu)型分析
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹原位拉伸系統(tǒng)可以與原位加熱系統(tǒng)配合作為SEM高溫拉伸使用，也可單獨(dú)作為SEM拉伸或EBSD拉伸使用，可以獲得高溫高質(zhì)量圖像
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹EBSD電子背散射衍射儀是一種*的微觀分析儀器，它能精密的分析和表征晶態(tài)材料的微觀組織和性能，提高速度和數(shù)據(jù)質(zhì)量
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹EBSD電子背散射衍射儀是一種*的微觀分析儀器，它能精密的分析和表征晶態(tài)材料的微觀組織和性能，提高速度和數(shù)據(jù)質(zhì)量
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹AutoChemⅡ2920催化劑表征系統(tǒng),提供程序升溫技術(shù)進(jìn)行催化劑的表征,如金屬分散度、活性金屬表面積、酸中心數(shù)量及強(qiáng)度分布等
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹RHX-01是浩視公司一代超景深三維視頻顯微系統(tǒng)，主機(jī)采用開(kāi)發(fā)的GENEX引擎高清模式，像素可達(dá)6900萬(wàn)，直接提供50幀/秒輸出（可達(dá)100幀/秒），...
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹核磁共振儀主要用于有機(jī)化合物、生物蛋白質(zhì)分子的結(jié)構(gòu)確證、鑒定或結(jié)構(gòu)、空間的構(gòu)型分析
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹LeicaEMUC7超薄切片機(jī)可以進(jìn)行半薄和超薄切片，為光學(xué)顯微鏡，透射電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡和原子力顯微鏡提供表面平整的切片
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹EBSD電子背散射衍射儀是一種*的微觀分析儀器，它能精密的分析和表征晶態(tài)材料的微觀組織和性能，提高速度和數(shù)據(jù)質(zhì)量
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹臨界點(diǎn)干燥儀，通常用乙醇作為中間液體
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹同步輻射是帶電粒子的運(yùn)動(dòng)速度接近光速（vc）在電磁場(chǎng)中偏轉(zhuǎn)時(shí)，沿運(yùn)動(dòng)的切線方向發(fā)出的一種電磁輻射，在電子同步加速器上發(fā)現(xiàn)，故得此名，又稱同步加速器輻射
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹JEM-ARM200F球差校正透射電鏡，擁有STEM-HAADF像分辨率（63pm）,標(biāo)配了掃描透射環(huán)形明場(chǎng)(STEM-ABF)成像模式
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹XradiaContextmicroCT，是一款大觀察視野、無(wú)損3DX射線微焦點(diǎn)計(jì)算斷層掃描系統(tǒng)
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹蔡司雙束電鏡Crossbeam系列，是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡
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詳細(xì)摘要： 設(shè)備介紹工業(yè)CT能在對(duì)檢測(cè)物體無(wú)損傷條件下，以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式，清晰、準(zhǔn)確、直觀地展示被檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、組成、材質(zhì)及缺損狀況，被譽(yù)為當(dāng)今無(wú)損...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2025-09-13 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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