蘇州安而森試驗(yàn)設(shè)備有限公司
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詳細(xì)摘要： ?IGBT/SiC 模塊 HTRB 高溫反偏試驗(yàn)系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：蘇州市更新時(shí)間：2026-04-19 在線留言
詳細(xì)摘要： ? PC功率循環(huán)試驗(yàn)系統(tǒng)（Power Cycling System）
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詳細(xì)摘要： 高溫反偏試驗(yàn)系統(tǒng)HTRB用于評(píng)估封裝工藝的穩(wěn)定性，加速缺陷失效率，剔除有隱患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔除早期失效的器件）。適用于IGBT/DIODE/MO...
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詳細(xì)摘要： 高溫高濕反偏試驗(yàn)系統(tǒng)H3TRB評(píng)估器件在高溫，高濕，偏壓條件下對(duì)濕氣的抵抗能力，加速其失效進(jìn)程，同時(shí)可附帶評(píng)價(jià)器件外觀的寢蝕,適用于IGBT/DIODE/MOS...
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詳細(xì)摘要： 高溫柵偏試驗(yàn)系統(tǒng)HTGB是將被測(cè)量元件放置在一定的環(huán)境溫度中，給被測(cè)元件的柵極施加一定的偏置電壓。同時(shí)測(cè)控系統(tǒng)實(shí)時(shí)檢測(cè)每個(gè)材料的漏電流、電壓，并根據(jù)預(yù)先設(shè)定，當(dāng)...
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詳細(xì)摘要： 功率單管 HTRB 高溫反偏試驗(yàn)系統(tǒng)
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詳細(xì)摘要： 小型高溫反偏測(cè)試系統(tǒng)用于研發(fā)部分評(píng)估封裝工藝的穩(wěn)定性，加速缺陷失效率，剔除有隱患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔除早期失效的器件）。適用于各種封裝形式的二極管、...
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詳細(xì)摘要： 通過模擬器件在條件下的工作狀態(tài)，加速其老化過程，從而在短時(shí)間內(nèi)評(píng)估其長(zhǎng)期可靠性。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：蘇州市更新時(shí)間：2026-04-19 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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