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BE-CP100壓力傳感器芯片參數(shù)自動測試系統(tǒng)

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產品簡介

動探針臺+專用測試儀，可高速完成3~8英寸硅壓力傳感器器件芯片的自動檢測，可完成阻值、耐壓、反流、失調電壓等測試。

詳細介紹

設備簡介

自動探針臺+專用測試儀，可高速完成3~8英寸硅壓力傳感器器件芯片的自動檢測，可完成阻值、耐壓、反流、失調電壓等測試。

主要特點
適用于3~8英寸芯片
工作行程:X軸180m,Y軸220mm,Z軸5m,θ軸±15°
X.Y.Z.θ解析度分別為:1um、1um、1um、0.0015°
工作步距(X,Y):公制0.001~9.99
主要測試功能:圓形、探邊、環(huán)型測試;壞點重測;分類測試、自定義圖形測試等
打點方式:實時、滯后、測后、脫機:
Windows中文操作界面, Mapping動態(tài)顯示
顯微鏡為10~67倍連續(xù)調節(jié),環(huán)形燈照明。