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基恩士（中國(guó)）有限公司
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基恩士（中國(guó)）有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)VK-X3000系列
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海市
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更新時(shí)間：2026-01-25 16:13:59瀏覽次數(shù)：90次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 塑料機(jī)械網(wǎng)基恩士 形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng) VK-X3000系列搭載白光干涉功能 ，納米/微米/毫米一臺(tái)即可完成測(cè)量 超越激光顯微鏡的限制，以三重掃描方式應(yīng)對(duì)?一臺(tái)即可測(cè)量納米/ 微米/ 毫米?一臺(tái)即可了解希望獲取的信息?納米級(jí)分辨率
基恩士 形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng) VK-X3000系列
產(chǎn)品外觀
采用了三重掃描方式，運(yùn)用激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理，高倍率和低倍率，平面、凹凸表面的細(xì)微粗糙度，
以及鏡面體，透明體等。VK擁有應(yīng)對(duì)多種樣品的測(cè)量能力（從 1 nm 到 50 mm），納米/微米/毫米一臺(tái)完成測(cè)量。
1、Basic Characteristics
觀察
從光學(xué)顯微鏡到SEM領(lǐng)域一臺(tái)設(shè)備涵蓋
42 至 28800 倍
無(wú)需對(duì)焦
適用于多種樣品
測(cè)量
非接觸瞬間掃描形狀
不會(huì)損傷目標(biāo)物
納米級(jí)別也可準(zhǔn)確測(cè)量
透明體和坡度大的目標(biāo)物也可測(cè)量
分析
希望了解的表面“差異"一目了然
定量化微小形狀
輕松比較多個(gè)樣品
粗糙度分析
2、三重掃描方式解決“難以測(cè)量"的難題
可根據(jù)樣品工件的材料、形狀和測(cè)量范圍，選擇激光共聚焦、白光干涉、聚焦變化等三種不同的掃描原理，進(jìn)行高精度測(cè)量。
3、納米級(jí)分辨率
即使是納米級(jí)的微小形狀變化也能準(zhǔn)確測(cè)量。
此外，如鏡面體、透明體等測(cè)量難度高的材料也能實(shí)現(xiàn)高速、高精度、大范圍的測(cè)量。
4、連高度差較大的凹凸處和大范圍區(qū)域也能測(cè)量
掃描區(qū)域50 mm見(jiàn)方。
凹凸不平或手掌大小的物體也能整體掃描。
只需一臺(tái)設(shè)備，即可同時(shí)掌握整體形狀和局部形狀。
5、精確測(cè)量高倍率和低倍率。平面和凹凸面。
適用于各種目標(biāo)物的測(cè)量能力
測(cè)量案例
Si 晶片背面 │ 3000 倍
表面粗糙度測(cè)量
MEMS │ 2 mm × 2 mm
提供：Matthieu Denoual 博士（GREYC/CNRS, ENSI de Caen,France）與東京大學(xué)研究生院三田吉郎研究室
相機(jī)卡口部端子 │ 30 mm × 12 mm
端子的形狀測(cè)量
基恩士 形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng) VK-X3000系列
除上述應(yīng)用外，在其他行業(yè)也應(yīng)用廣泛。
如果想了解更多信息可留言或電話咨詢，我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)。
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