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更新時間：2025-10-24 10:24:46瀏覽次數(shù)：87次
聯(lián)系我時，請告知來自 塑料機(jī)械網(wǎng)電致發(fā)光測量儀NovaLum包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，適用于電致發(fā)光樣品電致發(fā)光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學(xué)、色度學(xué)、穩(wěn)定性、發(fā)光角度分布等相關(guān)性能參數(shù)的精確測量，詳情請到“東譜科技"網(wǎng)站。
產(chǎn)品關(guān)鍵詞：電致發(fā)光測試儀、電致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)、外量子效率測量系統(tǒng)、光譜功率分布（λ）測量系統(tǒng)、電功率密度測量系統(tǒng)、發(fā)光特性測試系統(tǒng)、電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)、發(fā)光量子產(chǎn)率測量系統(tǒng)、光電特性測試、量子產(chǎn)率測量儀、積分球光譜測試儀、發(fā)光特性測量儀、IVLλ、有機(jī)發(fā)光二極管綜合性能測試系統(tǒng)、量子效率測試儀、量子效率測試系統(tǒng)
Product Keywords: Electroluminescence tester, electroluminescence Quantum efficiency Measurement System, External Quantum Efficiency Measurement System, Spectral Power Distribution (λ) measurement system, electric power density measurement system, Luminescence characteristic test system, Electroluminescence quantum Efficiency Test System, Luminescence quantum Yield Measurement System, photoelectric characteristic test, quantum Yield measurement instrument, integrating sphere Spectrum tester, Luminescence characteristic measurement instrument, IVLλ, organic light-emitting diode comprehensive performance test system, absolute quantum efficiency tester, quantum efficiency test system
產(chǎn)品簡介
電致發(fā)光測量系統(tǒng) NovaLum是東譜科技HiOE穩(wěn)態(tài)綜合光電特性測量平臺中的重要成員，用于對電致發(fā)光樣品的性能進(jìn)行精確測量。該系統(tǒng)包括IVL測試、器件壽命測試、空間角度分布測試等功能，可以便捷、快速地得到電致發(fā)光器件全面的性能參數(shù)，如電致發(fā)光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學(xué)、色度學(xué)、穩(wěn)定性、發(fā)光角度分布等相關(guān)性能參數(shù)。電致發(fā)光測量系統(tǒng) NovaLum很好地解決了行業(yè)上：（1）利用分光輻射度計測試時，存在低亮度測試速度慢、高亮度過曝的問題，從而不能用于易老化器件的測試，也不適宜用于寬亮度范圍的器件測試；（2）利用積分球系統(tǒng)測試時，無法得到準(zhǔn)確的前向亮度參數(shù)，且高亮度時也存在過曝問題，不能對強(qiáng)發(fā)光樣品進(jìn)行測試等的問題。
產(chǎn)品特點(diǎn)
□ 可以得到準(zhǔn)確的亮度，因而適宜OLED、鈣鈦礦LED、量子點(diǎn)LED、顯示屏等面光源的測量。
□ 高度集成化，自動對焦和觀察、自動位移、自動子器件切換；
□ IV、IVλ、IVL、IVLλ、發(fā)光角度分布；
□ 外量子效率EQE、電流效率、功率效率等；
□ CIE、CCT、MK-1（mred）、CRI、RGB顏色值、峰值波長等；
□ L-t、EQE-t、V-t、J-t、 λ-t 、CE-t、LE-t、PE-t、CIE-t曲線等；
□ 二維成像Mapping（MicroLED、微納器件、多像素陣列）；
□ 配備自動化的角度分辨測試功能，可以快速得到樣品發(fā)光的空間分布特性；
□ 配備了穩(wěn)定性測試功能，進(jìn)行老化測試，具有寬的亮度檢測范圍（<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ）；
□ 可以進(jìn)行各種環(huán)境的測試，如氣體氛圍、器件不封裝轉(zhuǎn)移測試等，同時可以實現(xiàn)手套箱內(nèi)快速換樣測試；
□ 配備自動對焦和觀察、自動位移、自動子器件切換等系統(tǒng)，可以極大地提升測試效率。
產(chǎn)品功能
□ 多種掃描模式：電壓掃描、電流掃描、角度掃描、時間掃描。
□ 分段循環(huán)電流、電壓掃描：可以研究器件的遲滯效應(yīng)等。
□ 實時測量：可以實時單點(diǎn)測量，靈活判斷器件的工作情況。
□ 兩線/四線測量：四線測量可更加準(zhǔn)確地測量器件的電流電壓。
□ 自動切換器件：通過軟件選擇測量的子器件。
□ 自動積分時間：避免因為亮度過低導(dǎo)致測不出信號、或亮度過高導(dǎo)致的過曝的問題。
□ 配備可視化實時觀察及位移系統(tǒng)：在軟件中可以實時觀察到器件的表面發(fā)光情況，可軟件操作對焦。
□ 自動保存數(shù)據(jù)：測量過程中自動保存數(shù)據(jù)，避免數(shù)據(jù)丟失等狀況。
規(guī)格參數(shù)
亮度測量 | 光譜測量 | ||
亮度范圍 | 0.01~9,999,000 cd/m^2 | 波長范圍 | 200-850nm 或者 350-1000nm |
測試角 | 1/3° | 積分時間 | 4 ms - 10 s |
視角 | 9° | 動態(tài)范圍 | 1300:1 |
相對光譜敏感度 | 匹配 CIE 光譜發(fā)光效率函數(shù) V (λ) | 校準(zhǔn)線性度 | >99.8% |
最小測量面積 ? | 4.5 mm (0.4mm) | 光學(xué)分辨率 | ~1.5 nm (FWHM) |
最短測量距離 | 1012mm (213mm) | 電流電壓測量 | |
測量時間 | AUTO：0.7~4.3 s | 電壓范圍/分辨率 | -210V~210V/100nV |
MANUAL：0.7~7.1 s | 電流范圍 /分辨率 | -1.05A~1.05A/1pA | |
產(chǎn)品應(yīng)用
□ 量子點(diǎn)發(fā)光二極管（QLED）
□ 有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）
□ 發(fā)光二極管（LED）
□ 鈣鈦礦發(fā)光二極管（PeLED）
□ 其它各種類型的電致發(fā)光器件
NovaLum拓展介紹
1、定義
電致發(fā)光量子效率（Electroluminescence Quantum Efficiency, ELQE）的核心定義是：電致發(fā)光器件（如 LED、OLED）在通電工作時，發(fā)射出的光子數(shù)與外部注入到器件中的電子 - 空穴對總數(shù)的比值。它專門衡量 “電能轉(zhuǎn)化為光能" 的效率，是評估電致發(fā)光器件性能的核心指標(biāo)，直接反映器件的實際發(fā)光能力。
外量子效率（External Quantum Efficiency, EQE）是光電器件（尤其是發(fā)光器件和光伏器件）的核心性能指標(biāo)，其核心定義需根據(jù)器件類型區(qū)分，常見的是針對發(fā)光器件（如 LED）：器件發(fā)射到外部的光子數(shù)，與外部注入到器件中的電子 - 空穴對總數(shù)的比值。它衡量的是器件 “最終實際輸出" 的光子效率，涵蓋了內(nèi)部載流子轉(zhuǎn)化和光子逃逸的全過程。
光譜功率分布（Spectral Power Distribution, SPD）是描述某一輻射源（如太陽、LED、激光器）在不同波長（λ）下，單位波長間隔內(nèi)所輻射的功率（或輻射通量）的分布關(guān)系。它是表征光源 “光譜組成" 的關(guān)鍵物理量，本質(zhì)是 “功率隨波長的變化函數(shù)"，其中 λ（波長）是自變量，用于明確 SPD 的描述對象是不同波長的輻射功率分布。
2、電致發(fā)光測量儀在器件研究的應(yīng)用
（1）、性能基準(zhǔn)評估與效率量化
測量外量子效率：直接測量器件的電致發(fā)光外量子效率（EQE），這是評價發(fā)光器件性能的黃金標(biāo)準(zhǔn)。
獲取全套光電參數(shù)：同步測量電流-電壓-亮度特性，得到電流效率、功率效率、流明效率、開啟電壓等關(guān)鍵參數(shù)，為器件性能提供全面的量化數(shù)據(jù)。
（2）、效率滾降機(jī)理研究
電致發(fā)光測量儀是分析該問題的關(guān)鍵工具。
應(yīng)用：測量EQE、電流效率等隨注入電流密度變化的曲線。
價值：通過分析效率滾降曲線，可以深入探究其物理根源：
載流子注入不平衡：電子和空穴注入速率不匹配。
俄歇復(fù)合：在高載流子濃度下，三個載流子相互作用導(dǎo)致非輻射復(fù)合。這是量子點(diǎn)LED和鈣鈦礦LED中的主要滾降機(jī)制之一。
焦耳熱效應(yīng)：大電流下的發(fā)熱導(dǎo)致非輻射復(fù)合增加。
（3）、器件老化與壽命測試
評估器件的穩(wěn)定性和可靠性對于商業(yè)化至關(guān)重要。
應(yīng)用：在恒定電流或脈沖電流下長時間驅(qū)動器件，并自動、持續(xù)地監(jiān)測其亮度、驅(qū)動電壓和光譜的變化。
分析失效機(jī)理：
電壓升高：可能意味著電極或傳輸層界面惡化，接觸電阻增大。
光譜藍(lán)移或紅移：指示發(fā)光層材料或器件結(jié)構(gòu)發(fā)生了化學(xué)變化或相分離。
（4）、缺陷與均勻性分析
通過將電致發(fā)光測量與成像系統(tǒng)結(jié)合，可以直觀地看到器件的“健康"狀況。
應(yīng)用：在驅(qū)動電壓下，用高靈敏度相機(jī)拍攝器件的電致發(fā)光圖像。
識別暗斑/死區(qū)：這些區(qū)域通常是缺陷集中、非輻射復(fù)合強(qiáng)烈的區(qū)域，源于薄膜制備不均勻或污染物。
評估電流分布均勻性：發(fā)光不均勻往往意味著電極設(shè)計不佳或載流子傳輸不平衡。
定位早期失效點(diǎn)：在老化測試中，可以觀察到暗斑的萌生和擴(kuò)展過程。
（5）、顏色質(zhì)量表征與光譜分析
對于顯示和照明應(yīng)用，顏色的純度和穩(wěn)定性至關(guān)重要。
應(yīng)用：測量器件在不同驅(qū)動電流下的電致發(fā)光光譜。
獲取色度參數(shù)：直接計算得到CIE色坐標(biāo)、相關(guān)色溫 和 顯色指數(shù)。
評估光譜穩(wěn)定性：判斷器件的發(fā)光顏色和純度是否會隨驅(qū)動電流增大而發(fā)生漂移（例如，量子點(diǎn)LED在高電流下的光譜不穩(wěn)定性）。
研究激子行為：通過分析光譜的形狀和峰值位置，可以研究器件內(nèi)的激子復(fù)合機(jī)制（如單線態(tài)/三線態(tài)激子比例）。
（6）、載流子復(fù)合動力學(xué)研究
結(jié)合瞬態(tài)電致發(fā)光測量，可以深入探究器件內(nèi)部的物理過程。
應(yīng)用：給器件施加一個短電壓脈沖，然后高精度地測量其發(fā)光強(qiáng)度的衰減曲線。
提取載流子壽命：通過擬合衰減曲線，得到載流子的輻射和非輻射復(fù)合壽命。
研究電荷輸運(yùn)與復(fù)合：分析衰減曲線的形狀，可以揭示器件內(nèi)的電荷注入、傳輸和復(fù)合的動力學(xué)過程。
3、產(chǎn)品主要測試功能特點(diǎn)
1、EL 光譜測量：分析發(fā)光顏色與光譜特性
通過檢測器件發(fā)光的波長分布，評估色性能、發(fā)光機(jī)制及材料帶隙，是 EL 測試的基礎(chǔ)方法。
原理：通過源表向器件施加恒定電壓 / 電流（電注入激發(fā)），器件發(fā)射的光經(jīng)光纖導(dǎo)入光譜儀，光譜儀將不同波長的光信號轉(zhuǎn)化為電信號，生成 EL 發(fā)射光譜（波長 λ vs 發(fā)光強(qiáng)度 I）。
典型應(yīng)用：OLED 的色坐標(biāo)（CIE 1931）、色溫（CCT）計算；量子點(diǎn) LED 的尺寸均勻性評估。
2、EL 強(qiáng)度與效率測量：量化發(fā)光效率與電 - 光轉(zhuǎn)化能力
結(jié)合積分球或亮度計，測量器件的發(fā)光強(qiáng)度及量子效率，是評估器件性能的核心方法。
（1）EL 強(qiáng)度（亮度）測量
原理：用亮度計（或成像亮度計）直接測量器件表面的發(fā)光強(qiáng)度（單位：cd/m2 或 nit），或通過積分球收集器件全角度發(fā)射的光，計算總光通量（單位：lm）。
（2）電致發(fā)光量子效率（ELQE）測量
原理：通過積分球 + 光譜儀 + 源表的聯(lián)用系統(tǒng)，實現(xiàn) “電學(xué)注入 - 全角度光收集 - 光譜檢測" 的同步測量：
3、EL 成像測量：分析發(fā)光的空間均勻性與缺陷分布
通過高分辨率相機(jī)捕捉器件的發(fā)光圖像，直觀定位局部缺陷，是工藝優(yōu)化與失效分析的關(guān)鍵方法。
原理：器件在電注入下發(fā)光，經(jīng)顯微物鏡（適配微型器件）或成像鏡頭（適配組件）放大后，由高靈敏度相機(jī)（如 CCD、EMCCD）拍攝發(fā)光圖像，圖像的灰度檢測 OLED 的 “暗斑"（對應(yīng)電極接觸不良或發(fā)光層缺陷）；
篩選 Micro-LED 陣列中的 “死像素"（發(fā)光強(qiáng)度為零的微型芯片）；
定位光伏電池的隱裂、斷柵（缺陷區(qū)域 EL 信號減弱）。
4、動態(tài)與變工況 EL 測量：分析發(fā)光穩(wěn)定性與環(huán)境適應(yīng)性
模擬器件實際工作條件，測量 EL 信號的動態(tài)變化，評估穩(wěn)定性與失效機(jī)理。
（1）動態(tài) EL（瞬態(tài) EL）測量
原理：用脈沖源表施加瞬態(tài)電脈沖，通過快速響應(yīng)探測器記錄 EL 強(qiáng)度隨時間的衰減曲線。
核心參數(shù)：EL 上升時間（載流子注入速度）、衰減時間（載流子復(fù)合壽命），用于分析載流子的動態(tài)輸運(yùn)與復(fù)合過程。
（2）變工況 EL 測量
變溫 EL：搭配控溫樣品臺（-196℃至 300℃），測量不同溫度下的 EL 光譜 / 強(qiáng)度，分析溫度對載流子復(fù)合的影響。
變角度 EL：測量不同出射角度（0°-90°）的 EL 光譜 / 強(qiáng)度，評估顯示器件的視角依賴性。
老化 EL 監(jiān)測：長時間（幾小時至幾百小時）連續(xù)測量 EL 強(qiáng)度 / 光譜，記錄衰減趨勢，分析器件老化機(jī)理。
4、測試樣例
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