常州銳奇精密測(cè)量技術(shù)有限公司
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詳細(xì)摘要： 模塊化的小型控制器，具有豐富的通訊功能和良好擴(kuò)展性能，可滿(mǎn)足簡(jiǎn)單離散自動(dòng)控制系統(tǒng)和獨(dú)立自動(dòng)化系統(tǒng)需求。
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詳細(xì)摘要： 測(cè)量傳感器：高精度光譜共焦位移傳感器。測(cè)量方式：反射式光學(xué)幾何厚度測(cè)量。
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詳細(xì)摘要： 利用光的干涉現(xiàn)象，通過(guò)分析具備相位差的兩路反射光的干涉條紋來(lái)?yè)Q算待測(cè)物體的厚度。
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詳細(xì)摘要： 雙探頭上下同軸相對(duì)安裝，采用三角幾何法，通過(guò)測(cè)量材料上下表面到激光器的距離，來(lái)測(cè)量材料的幾何厚度。
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詳細(xì)摘要： 兩個(gè)激光位移傳感器上下對(duì)射的方式組成的，上下的兩個(gè)傳感器分別利用三角形測(cè)量法
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詳細(xì)摘要： 根據(jù)分光干涉條紋的周期和薄膜厚度的關(guān)系，利用傅立葉變換方法，解析薄膜的厚度。
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詳細(xì)摘要： 射線(xiàn)激光測(cè)厚一體機(jī)是X/β射線(xiàn)測(cè)厚儀和激光測(cè)厚儀合二為一的結(jié)合體
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詳細(xì)摘要： 光譜共焦成像原理，線(xiàn)光斑掃描測(cè)量，加上銳奇圖像算法處理軟件，一次掃描即可記錄詳細(xì)原始數(shù)據(jù)并生成多種形式的2D/3D圖，實(shí)現(xiàn)物體表面3D輪廓檢測(cè)。
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詳細(xì)摘要： 采用非接觸式對(duì)射法測(cè)量；可測(cè)SiC，GaAs，InP，GaN等晶圓材料，滿(mǎn)足SEMI標(biāo)準(zhǔn)，晶圓TTV BOW WARP 等測(cè)量。
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詳細(xì)摘要： CCD視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備是一種基于CCD（Charge-Coupled Device，電荷耦合器件）圖像傳感器和計(jì)算機(jī)視覺(jué)技術(shù)的自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備
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詳細(xì)摘要： 通過(guò)近紅外光電探測(cè)器探測(cè)材料對(duì)近紅外光的吸收量來(lái)測(cè)量材料的面密度（厚度）或材料中所含水分。
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詳細(xì)摘要： X光檢查機(jī)采用X光透射原理，對(duì)被測(cè)物內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行實(shí)時(shí)拍照檢測(cè)。
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