產品介紹：

FAST SDD礦石成分分析儀真空型光譜儀(XRF)在礦物/礦石分析領域表現出色，主要用于：

- 采礦作業(yè)：勘探、開采、品位控制

- 工業(yè)礦物：過程控制與質量控制

- 其他領域：水泥和建筑材料生產所需的原材料、耐火材料、陶瓷和玻璃、地球化學學術研究、考古學等。

- 新一代Fast SDD檢測器采用全新的真空光學系統和超高分辨率技術，可針對以下輕、中、重元素以及常見氧化物獲得優(yōu)良分析結果：Na?O、MgO、Al?O?、SiO?、P?O?、SO?、K?O、CaO、TiO?、Cr?O?、MnO、Fe?O?、ZnO、SrO等。

- 涵蓋多種礦物質：

鐵礦石：磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等

銅礦石：黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等

鉻礦：鉻尖晶石、鉻鐵礦、鉻鐵礦-鉍鐵礦等

鉬礦：輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等

鎢礦：白鎢礦、黑鎢礦、錫石等

鉭礦：鉭鈮礦、鈮鐵礦、燒綠石等

鉛鋅礦：方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等

鎳礦：紅土鎳礦、銅鎳硫化礦等

鋁土礦和其他礦物

FAST SDD礦石成分分析儀真空型光譜儀(XRF)產品特點：

- 微型化、高性能、高速、易操作、高靈敏度、高精度分析

- 同時分析40種元素

- 采用多準直器、多濾光片以及背景減除的技術

- 珀爾帖制冷FAST SDD硅漂移探測器具有出色的短期重復性和長期再現性，以及優(yōu)異的元素峰分辨率。

- 它采用超高計數數字多通道電路設計，配備雙真空抽氣機制和自動真空穩(wěn)定系統

- 標準基礎參數方法軟件，支持多任務處理，可進行多窗口操作

- 薄膜濾光技術有效提高了對輕元素的檢測限

產品參數：

蘇州源銀科技有限公司專注于分析儀器領域的一站式解決方案。我們致力于為客戶提供優(yōu)良可靠的測試服務和設備，以滿足不同行業(yè)嚴格的檢測要求。源銀產品線涵蓋從便攜式分析儀到大型實驗室級檢測設備。我們對分析技術進行深入研究，不斷探索和開發(fā)新的檢測方法和儀器，確保我們的產品和服務始終處于行業(yè)前沿。作為行業(yè)優(yōu)秀企業(yè)，源銀科技匯聚了一批高素質、專業(yè)化的技術團隊，他們擁有深厚的專業(yè)背景和豐富的實踐經驗，能夠為客戶提供全面的技術支持和咨詢服務。源銀科技已與來自50多個國家的客戶建立了業(yè)務關系，憑借可靠的質量、有競爭力的價格和優(yōu)質的服務，贏得了良好的聲譽。