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芯片高低溫試驗(yàn)箱

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東莞市全優(yōu)儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

芯片高低溫試驗(yàn)箱適用于芯片高低溫循環(huán)篩選

詳細(xì)介紹

一、用途說明：
快速溫變試驗(yàn)箱是用于模擬氣候環(huán)境的設(shè)備。該設(shè)備適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件在溫度快速轉(zhuǎn)變的情況下檢驗(yàn)產(chǎn)品的各項(xiàng)性能指標(biāo)。
二、規(guī)格型號
1	產(chǎn)品名稱	快速溫變試驗(yàn)箱
2	產(chǎn)品型號	YTK3-240C
3	內(nèi)箱尺寸	W(寬)600mm×H(高)500mm×D(深)800mm
4	外箱尺寸	約W(寬)1300mm×H(高)1750mm×D(深)1650mm
5	內(nèi)箱容積	約240L
6	噪音	≤75dB(環(huán)境溫度25℃，分貝計(jì)探頭離地高度1米、距離1米遠(yuǎn)進(jìn)行溫箱前面噪音測量，取幾個(gè)面平均值).
7	風(fēng)速	≥3m/s
8	設(shè)備重量	600KG

三、性能參數(shù)（根據(jù)IEC60068-3-5、6及JJF1101-2019標(biāo)準(zhǔn)中相關(guān)要求測試所獲數(shù)據(jù)！）
1	溫度參數(shù)	溫度范圍：-70～170℃
		溫度分辨率：0.01℃
		溫度精度：0.1℃
		溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃
		溫度均勻度：空載≤±1.0℃（-40℃～+105℃范圍內(nèi)）空載≤±2.0℃（-40℃～+105℃范圍外）滿載≤±2.0℃（-40℃～+105℃范圍內(nèi)，發(fā)熱負(fù)載800W，計(jì)量按滿載發(fā)熱且探頭離產(chǎn)品10cm處）
		溫度偏差：≤±1.0℃（-40℃～+105℃范圍內(nèi)） ≤±2.0℃（-40℃～+105℃范圍外）
		升溫速率：-40℃升到+150℃ ≥3℃/分鐘（非線性，出風(fēng)口溫度，負(fù)載30KG鋁錠+800W發(fā)熱）；
		降溫速率：+125℃降到-40℃ ≥3℃/分鐘（非線性，出風(fēng)口溫度，負(fù)載30KG鋁錠+800W發(fā)熱）；
		負(fù)載能力：-40℃～+150℃ 30KG鋁錠+800W純發(fā)熱