上海范泰電子科技有限公司
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詳細(xì)摘要： NEXIS GC-2030為特定領(lǐng)域/需求定制GC分析系統(tǒng)Nexis GC-2030為配置GC自定義系統(tǒng)提供了*支持，實(shí)現(xiàn)量身定制，滿足用戶不同需求。這些系統(tǒng)在...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海市更新時(shí)間：2026-03-30 在線留言
詳細(xì)摘要： Keyence 日本基恩士 圖像尺寸測(cè)量?jī)x IM-8000系列放置后僅按一鍵即可測(cè)量Topic 1支持一鍵完成各種測(cè)量，出眾的邊緣檢測(cè)能力Topic 2一次性測(cè)...
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詳細(xì)摘要： SmartSCAN 3D-HE為高階掃描量測(cè)系統(tǒng)，并可達(dá)到高標(biāo)準(zhǔn)精確度與解析度下展現(xiàn)的靈活性。利用黑白或彩色相機(jī)應(yīng)用于不同專案上并根據(jù)不同的任務(wù)調(diào)整成最合適的量...
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詳細(xì)摘要： 日本巖崎BH分析儀,軟磁材料測(cè)試儀SY-8219/SY-8218磁特性的磁通密度B（以T為單位），磁場(chǎng)強(qiáng)度H（為A/m為單位）采用普遍的X-Y軸，這里被描述的曲...
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詳細(xì)摘要： 由于IGBT在功率半導(dǎo)體的市場(chǎng)日趨重要，使用新的測(cè)試方法來(lái)測(cè)試產(chǎn)品特性及生產(chǎn)是必須的。在此介紹的模組化測(cè)試系統(tǒng)是瞄準(zhǔn)功率電晶體的靜態(tài)及動(dòng)態(tài)量測(cè)，討論的是IGBT...
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詳細(xì)摘要： ATOS 5專為工業(yè)應(yīng)用而開發(fā)設(shè)計(jì)，即便在苛刻的條件下，也能在短時(shí)間內(nèi)提供高精數(shù)據(jù)。利用全場(chǎng)三維測(cè)量數(shù)據(jù)，有助于實(shí)現(xiàn)的工藝過(guò)程和質(zhì)量控制、顯示隱藏的錯(cuò)誤，并由此...
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詳細(xì)摘要： 微焦點(diǎn)X射線CT系統(tǒng)MICRO-FOCUS X-RAY CT SYSTEMInspeXio SMX-225CT FPD HR
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詳細(xì)摘要： KSCAN-Magic復(fù)合式三維掃描儀
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詳細(xì)摘要： Mitutoyo/三豐投影儀PJ ,PV ,PH系列
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詳細(xì)摘要： QuantumM 2.5m,6axis ArmQuantumM 2.5米,6軸便攜式測(cè)量臂測(cè)量范圍: 2.85米(空間直徑)單點(diǎn)重復(fù)性精度：0.026mm空間精...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海市更新時(shí)間：2026-03-30 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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