
適用于大多數(shù)樣品,包括薄片、粉末、碎片、透明與非透明樣品,無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行噴碳或噴金處理
可通過(guò)不同大小的光孔對(duì)礦物或試樣進(jìn)行微區(qū)分析(小至50~100μm)
可通過(guò)對(duì)束斑大小的調(diào)節(jié),得到礦物未知成分的平均值
電子束激發(fā)X射線(xiàn)熒光強(qiáng)度高,強(qiáng)度要大于X射線(xiàn)激發(fā)源的激發(fā)強(qiáng)度約4-5個(gè)數(shù)量級(jí),測(cè)試時(shí)間短
電子束入射樣品深度很淺(僅僅為1-2μm左右),實(shí)現(xiàn)表面分析。
除激發(fā)的特征X射線(xiàn)被探測(cè)以外,沒(méi)有其他的噪聲信號(hào)被探測(cè),分析結(jié)果準(zhǔn)確
探測(cè)器可探測(cè)的元素范圍為11(Na)~92(U)
對(duì)Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn等主量元素的分析結(jié)果譜線(xiàn)重復(fù)性好。
全自動(dòng)分析內(nèi)建診斷功能,操作簡(jiǎn)便。

















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