一、可程式冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品簡介
該系列產(chǎn)品適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件、電線、電纜等在高低快速交變環(huán)境下、檢驗其各性能項指標.及質(zhì)量管理之用
1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗
2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗
3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗
第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則
3. GJB360B-2009溫度沖擊試驗
4. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
5.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
6.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
7.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
三、可程式冷熱沖擊試驗箱技術(shù)參數(shù)
| 項目 | 說明 |
| 產(chǎn)品名稱 | 冷熱沖擊試驗箱 |
| 型號 | HD-E703-150T |
| 試樣限制 | 本試驗設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗;儲存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗、儲存生物的試驗、儲存強電磁發(fā)射源試樣的試驗及儲存 |
| 容積、重量和尺寸 | |
| 標稱容積 | 150 L |
| 內(nèi)箱有效尺寸 | 500×500×600 W×H×D(mm) |
| 外形空間 | 約1380×1800×2030 W×H×D(mm) |
| 重量 | 650㎏ |
| 噪音 | 75db以內(nèi)(離機臺正面1米并離地面1.2米處測量) |
| 功率 | 33KW |
| 電流 | 45A |
| 溫度范圍 | 高溫區(qū)溫度范圍:RT~170℃ 低溫區(qū)溫度范圍:RT~ -75℃ 測試區(qū)溫度范圍:-40~ 150℃ |
| 溫度沖擊范圍 | 高溫: 60℃~ 150℃ 低溫: -10℃ ~ -40℃
|
| 控制精度 | 解析精度: 0.1℃ 溫度波動度: ±1℃ 分布均勻度:≤2.5℃ 溫度偏差:±1℃ |
| 儲冷時間 | RT→-60℃ ≤ 40min |
| 儲熱時間 | RT→170℃ ≤ 35min |
| 注:每立方米負載不大于35kg/m3鋼的熱容量 | |
| 注:以上性能指針是在環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤ 85%RH、無試樣條件下測得的數(shù)值 | |























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