HAST 高溫高壓老化試驗(yàn)箱

HAST高溫高壓老化試驗(yàn)箱?是一種用于加速老化測(cè)試的設(shè)備，主要用于模擬高溫、高濕和高壓環(huán)境，以評(píng)估電子元器件、半導(dǎo)體、微電子芯片等產(chǎn)品的可靠性和耐久性。

適合國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、制藥等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。

廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC半導(dǎo)體,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

•  采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，在上降低了使用故障率。

•  獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

•  門鎖省力結(jié)構(gòu)，解決代產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。

•  試驗(yàn)前排冷空氣;試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

•  超長(zhǎng)效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)1000小時(shí)以上.

•  水位保護(hù)，透過(guò)試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).

• tank耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測(cè)試4kg.

•   二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置.

•  安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕 .

•  偏壓測(cè)試端子耐壓可達(dá)3000V(選配）

•  USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.

基本參數(shù)：

適用標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗(yàn).第2-66部分：試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱

JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗(yàn)（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗(yàn)（加速抗?jié)裥詽B透）

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)

JESD22-A118溫濕度無(wú)偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST（無(wú)偏置電壓未飽和高壓蒸汽）