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現(xiàn)場(chǎng)/遠(yuǎn)程-場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡

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FOF實(shí)驗(yàn)室:為北京依維特技術(shù)服務(wù)有限公司旗下專業(yè)檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室,為自主獨(dú)立第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)。公司伊始以來(lái)服務(wù)于,科研,高校等。如航天科工,系統(tǒng),985/211中多所高校,來(lái)幫助客戶解決樣品多,機(jī)時(shí)少等諸多問(wèn)題。公司擁有專業(yè)的導(dǎo)師顧問(wèn),解決實(shí)驗(yàn)上的疑難雜癥,讓科研人得之所需,需之即快的服務(wù)體驗(yàn)。 實(shí)驗(yàn)室上線網(wǎng)上商城2.0版-- ,實(shí)現(xiàn)網(wǎng)上自由訂單模式,客戶輕松自助下單,避免傳統(tǒng)人工下單的時(shí)間久,不透明等弊處。客戶可隨時(shí)隨地在網(wǎng)站內(nèi)查看訂單狀態(tài),完成情況。有專業(yè)項(xiàng)目經(jīng)理隨時(shí)在線溝通,為您的樣品保駕護(hù)航,解決您最關(guān)心的檢測(cè)問(wèn)題。 實(shí)驗(yàn)室使用儀器均為日立,F(xiàn)EI,布魯克等行業(yè)品牌,精準(zhǔn)剖析樣品本質(zhì)。實(shí)驗(yàn)工程師皆有多年儀器操作經(jīng)驗(yàn),熟悉材料,生物等樣品特性,選擇合適的測(cè)試環(huán)境,嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臏y(cè)試方法,嚴(yán)格把控實(shí)驗(yàn)環(huán)節(jié),得到您最想要的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。 檢測(cè)覆蓋:微觀形貌有掃描電鏡,透射電鏡,球差電鏡,F(xiàn)IB等,可在樣品收到當(dāng)天得出數(shù)據(jù),反饋予客戶,享受到測(cè)試體驗(yàn)。成分分析擁有國(guó)內(nèi)同步輻射資源。更有結(jié)構(gòu)分析,理化性能,環(huán)境工業(yè)...等測(cè)試能力。高效的測(cè)試反饋可解您的燃眉之急。
電子材料試驗(yàn)機(jī)
設(shè)備介紹TalosF200XS/TEM融合了出色的高分辨率STEM和TEM成像功能、行業(yè)的能譜儀(EDS)信號(hào)檢測(cè)功能及基于成分面分析的三維化學(xué)表征功能
現(xiàn)場(chǎng)/遠(yuǎn)程-場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

設(shè)備介紹

Talos F200X S/TEM 融合了出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能、行業(yè)的能譜儀 (EDS) 信號(hào)檢測(cè)功能及基于成分面分析的三維化學(xué)表征功能。Thermo Scientific Velox TM S/TEM 控制軟件通過(guò)智能掃描引擎、基于多個(gè) STEM 探測(cè)器的多通道合并技術(shù)以及差分相位襯度 (DPC) 成像技術(shù),顯著改善了 S/TEM 成像質(zhì)量,可以更好地分析電磁結(jié)構(gòu),并實(shí)行快速、準(zhǔn)確的 EDS 數(shù)據(jù)處理和定量分析。
X-FEG 高亮度電子槍可以在提供高達(dá)標(biāo)準(zhǔn)肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍五倍亮度的同時(shí)保持較小的會(huì)聚角。用戶可以獲取高信噪比以及的 STEM、EDS 圖像分辨率和更多高分辨 TEM 應(yīng)用。X-FEG 高亮度電子槍所具有的高穩(wěn)定性及使用壽命很長(zhǎng)等特點(diǎn),使其具有更高的成像效率。

儀器型號(hào)

FEI Talos F200X

技術(shù)參數(shù)

  • X-FEG 亮度1.8 × 109 A/cm2 srad(@200 kV)
  • 總電子束電流 > 50 nA 
  • 探針電流 1.5 nA @ 1 nm 束斑 (200 kV) 
  • 能量分辨率≤ 136 eV Mn-Kα @10 kcps(輸出)
  • STEM HAADF 分辨率0.16 nm
  • TEM 信息分辨率0.12 nm

案例展示

    應(yīng)用范圍

    該儀器廣泛用于高分子材料、陶瓷、納米材料、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)、地質(zhì)學(xué)、金屬、半導(dǎo)體材料等領(lǐng)域的科學(xué)研究。

    關(guān)鍵詞:PC
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