產品技術
采用光學干涉位移傳感器對納米級、亞微米級超薄透明材料或超薄透明涂層進行厚度測量、形貌測量。
測量范圍:1nm~100μm;采樣頻率: 10KHz;
重復精度:2~10nm;線性精度:±20nm
產品特點
光學膜涂層等超薄透明材料、透明涂層厚度的高精度測量。
鈣鈦礦、半導體晶圓、光刻膠厚度檢測。
離型膜涂層、鋰電池極片邊緣PI膠透明涂層測厚。
| 參考價 | 面議 |
產品技術
采用光學干涉位移傳感器對納米級、亞微米級超薄透明材料或超薄透明涂層進行厚度測量、形貌測量。
測量范圍:1nm~100μm;采樣頻率: 10KHz;
重復精度:2~10nm;線性精度:±20nm
產品特點
光學膜涂層等超薄透明材料、透明涂層厚度的高精度測量。
鈣鈦礦、半導體晶圓、光刻膠厚度檢測。
離型膜涂層、鋰電池極片邊緣PI膠透明涂層測厚。
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