目前國(guó)內(nèi)諸如鍋爐壓力容器、冶金和機(jī)械等行業(yè)已普遍采用夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)取代使用了幾十年的梅氏U型缺口沖擊試驗(yàn)。
對(duì)于夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格（試樣缺口深2mm、呈45°角且試樣缺口要求R0.25±0.025mm），故在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問(wèn)題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)會(huì)引起產(chǎn)品或報(bào)廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，具缺口的加上質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的質(zhì)量控制手段。日前用光學(xué)投影放大檢查是切實(shí)可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。
CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-94《金屬夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀，效率高。
該儀器還可用于機(jī)械零部件的外形輪廓、紡織物纖維、生物切片分析、工量刃具的檢驗(yàn)、儀表元件和半導(dǎo)體元件的投影檢測(cè)。
二、工作原理
本投影儀發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測(cè)物，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射在投影屏幕上。根據(jù)實(shí)際需要，本儀器為單一投射照明，光源通過(guò)一系列光學(xué)元件投射在工作臺(tái)上，再通過(guò)一系列光學(xué)元件將被測(cè)試樣缺口輪廓清晰的投射到投影屏上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方向是一致的。
三、主要參數(shù)
投影屏直徑：180mm；
工作臺(tái)尺寸：
方工作臺(tái)：110×125mm
圓工作臺(tái)：90mm
工作臺(tái)玻璃直徑：70 mm
工作臺(tái)行程：
縱向：10 mm
橫向：10 mm
升降：12 mm（無(wú)刻度）
工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0 — 360°
儀器放大倍率：50×
物鏡放大倍率：2.5×
投影物鏡放大倍率：20×
光源（鹵鎢燈）：12V/100W
電源：220V/50Hz
外形尺寸：515×224×603mm（長(zhǎng)×寬×高）
重量：約18kg
