高加速老化試驗(yàn)箱廣泛適用于IC、PCB、LCD Board、電池、電容、電阻,及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴(lài)性試驗(yàn), 比較傳統(tǒng)之恒溫恒濕設(shè)備85/85%R.H.試驗(yàn)時(shí),可以節(jié)省大量時(shí)間, 當(dāng)測(cè)試溫度越高, 壓力越大,測(cè)試時(shí)間縮短越多, 在質(zhì)量檢驗(yàn)上大量節(jié)省電力, 人力, 物力, 提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力.有多種型號(hào)可選擇。

設(shè)備特點(diǎn)

精確控制：

采用微電腦飽和蒸氣溫度+時(shí)間+壓力顯示獨(dú)立控制器，分辨率高，控制穩(wěn)定。

溫度控制精度可達(dá)±0.5℃，濕度為%RH飽和蒸氣。

壓力范圍廣泛，可滿(mǎn)足不同測(cè)試需求。

高加速老化試驗(yàn)箱性能

 1.1 設(shè)定溫度:  +100 ℃  ～ +147 ℃( 蒸氣溫度 )

      1.2 濕度范圍:  75~100 % 蒸氣濕度
      1.3濕度控制穩(wěn)定度：±3%RH

      1.3 使用壓力: 1.2~2.89kg(含1atm)

      1.4 時(shí)間范圍: 0 Hr ～ 999 Hr

      1.5 加壓時(shí)間:  0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  約 45 分

      1.6 溫度波動(dòng)均勻度 : ±0.5℃

      1.7 溫度顯示精度：0.1℃

      1.8 壓力波動(dòng)均勻度 : ±0.1Kg

      1.9 濕度分布均度：±3%RH

安全保護(hù)：

       a.進(jìn)口耐高溫密封電磁閥，采用雙回路結(jié)構(gòu)，保證壓力無(wú)泄露。

     b.整機(jī)配備超壓保護(hù)，超溫保護(hù)，一鍵泄壓，手動(dòng)泄壓多重安全保障裝置，在上保證用戶(hù)

       的使用和安全。

     c.反壓門(mén)鎖裝置，在試驗(yàn)室內(nèi)部有壓力時(shí)，試驗(yàn)箱門(mén)無(wú)法打開(kāi).