電子材料冷熱沖擊試驗箱用于電子,電子材料,電子元器件,電器,電子產(chǎn)品,電子元器件,數(shù)碼產(chǎn)品,手機,電腦,太陽能組件,光伏組件,光纖,光電,LED,LCD,PCB,FPC,微電子,測試手機連接器,電腦連接器,電源連接器,信號連接器,PCB連接器,FPC連接器,電感器、濾波器、變壓器,電機,,航天,航空,汽車燈產(chǎn)品及零部件在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在最短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。
可測試的溫度條件包括:

電子材料冷熱沖擊試驗箱滿足的試驗方法:
GB/T2423.1-1989低溫試驗方法;
GB/T2423.2-1989高溫試驗方法;
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗;
GJB150.5-86溫度沖擊試驗;
GJB360.7-87溫度沖擊試驗;
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式
IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則
GB/T 2423.22-2002溫度變化
QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則
EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估




















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