LD-COS檢測(cè)設(shè)備：用于激光芯片貼片后，光性能的檢測(cè)設(shè)備。傳統(tǒng)檢測(cè)方式為人工上下料，儀器檢測(cè)數(shù)據(jù)，人工篩選和記錄。本設(shè)備將全面實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化，大大提高芯片檢出效率，減少人為操作帶來(lái)的誤判或芯片損傷，更省人省時(shí)