產(chǎn)品介紹：HASTChamber又名HAST高壓加速壽命老化試驗(yàn)箱，用于車規(guī)級(jí)芯片，IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用