設(shè)備介紹:
本產(chǎn)品專注于半導體分立器件可靠性驗證,可精準完成高溫反偏(HTRB)和高溫漏電流測試(HTIR),全面適配新能源、汽車電子、工業(yè)控制等多領(lǐng)域嚴苛測試需求,為器件設(shè)計優(yōu)化、量產(chǎn)質(zhì)量管控及合規(guī)認證提供核心數(shù)據(jù)支撐,筑牢半導體產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的質(zhì)量防線。
技術(shù)規(guī)格與核心性能:
技術(shù)規(guī)格 | 容量 | 12/14slot |
電壓檢測 | 電壓檢測:0.0~2000.0V; 精度:±(0.5% rdg.+ 0.1) V; 分辨率:0.1V | |
漏電流檢測 | 電流檢測:10nA~50.00mA; 精度:±(0.5% rdg.+0.01)μA; 分辨率:1nA | |
性能指標 | 溫度范圍(℃) | -10℃ / R.T.~ 160℃ |
溫度均勻度(℃) | 2℃ | |
溫度偏差(℃) | ±2℃ |
核心優(yōu)勢
1. 全規(guī)格兼容:滿足二極管,三極管,場效應(yīng)管, IGBT單管和可控硅等形式。
2. 測試穩(wěn)定:接觸穩(wěn)定,高低頻信號匹配,長使用壽命,適配長期批量測試。
3. 嚴苛環(huán)境模擬:可模擬復雜工況,復現(xiàn)實際應(yīng)用中的各類環(huán)境應(yīng)力,全面驗證產(chǎn)品可靠性。
典型應(yīng)用:
品質(zhì)承諾:
1. 設(shè)備核心部件均經(jīng)過嚴苛篩選與老化測試,整機出廠前完成全流程標定與試機驗證。
2. 提供定制化方案設(shè)計、安裝調(diào)試、專業(yè)操作培訓。
3. 設(shè)備質(zhì)保期內(nèi)免費更換故障配件,質(zhì)保期后提供終身技術(shù)升級支持。





















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