設(shè)備介紹:
本產(chǎn)品是專為 SD各類存儲卡打造全維度可靠性驗證方案,覆蓋消費級、工業(yè)級存儲卡的高低溫老化、循環(huán)讀寫、高低壓應(yīng)力、溫濕度循環(huán)等全流程測試需求,適配存儲卡生產(chǎn)研發(fā)、品控驗證、可靠性認(rèn)證等全場景應(yīng)用,為存儲元器件的穩(wěn)定運行筑牢測試防線。
技術(shù)規(guī)格與核心性能:
技術(shù)規(guī)格 | 核心構(gòu)型 | 單腔34 slots |
層間距設(shè)計 | 45mm | |
自動化選項 | 測試板自動插拔機(jī)構(gòu); 自動開關(guān)門機(jī)構(gòu)(可選) | |
性能指標(biāo) | 溫度范圍(℃) | -10℃~150℃;-40℃~150℃;-70℃~150℃(可選) |
溫度均勻度(℃) | 空載±1℃;滿載±3℃ | |
帶載能力(kw) | 6.5kw |
核心優(yōu)勢
1.全規(guī)格兼容:支持 SD系列存儲卡,適配各類封裝尺寸,無需頻繁更換夾具,降低測試成本。
2. 測試穩(wěn)定:接觸穩(wěn)定,高低頻信號匹配,長使用壽命,適配長期批量測試。
3. 智能化控制:支持多通道獨立控溫、獨立讀寫,可自定義測試流程,實時監(jiān)控測試數(shù)據(jù),異常情況自動報警并記錄,實現(xiàn)無人值守測試。
4. 嚴(yán)苛環(huán)境模擬:可模擬高溫高濕、高低溫沖擊、電壓波動等復(fù)雜工況,復(fù)現(xiàn)存儲卡實際應(yīng)用中的各類環(huán)境應(yīng)力,全面驗證產(chǎn)品可靠性。
典型應(yīng)用:
1. 適用于消費電子、工業(yè)控制、車載電子、安防監(jiān)控、航天等領(lǐng)域的 SD存儲卡研發(fā)與生產(chǎn)環(huán)節(jié)
2. 滿足存儲卡生產(chǎn)企業(yè)的來料檢測、制程品控、成品可靠性認(rèn)證,
3 . 支撐科研機(jī)構(gòu)、檢測實驗室對存儲器件的性能研究與可靠性驗證,適配消費級高速存儲卡、工業(yè)級寬溫存儲卡、車規(guī)級抗干擾存儲卡等多類型產(chǎn)品的全流程測試需求。
品質(zhì)承諾:
1. 設(shè)備核心部件均經(jīng)過嚴(yán)苛篩選與老化測試,整機(jī)出廠前完成全流程標(biāo)定與試機(jī)驗證。
2. 提供定制化方案設(shè)計、安裝調(diào)試、專業(yè)操作培訓(xùn)。
3. 設(shè)備質(zhì)保期內(nèi)免費更換故障配件,質(zhì)保期后提供終身技術(shù)升級支持。





















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